[发明专利]多触摸按键检测方法及其模块、MCU、计算机存储介质

权利要求书

1.一种多触摸按键检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

MCU扫描驱动触摸电极，同时用屏蔽信号驱动屏蔽电极，所述屏蔽信号与处于检测状态的触摸电极的驱动信号相同；当同时检测到至少两个触摸电极的电容变大时，进行涉水检测；

涉水检测包括：在所有电容变大的触摸电极中，分别取不同的触摸电极作为待测电极执行检测判断步骤，直到所有电容变大的触摸电极均检测判断完成；

所述检测判断步骤包括：将所有触摸电极及屏蔽电极连接的MCU引脚均切换为普通IO引脚功能，并推挽输出低电平；将待测电极连接的引脚切换为ADC悬空输入状态，其他引脚均拉高，检测待测电极上的电平，若电平大于预设的标定值，则认为待测电极上有液滴存在；若电平小于预设的标定值，则认为待测电极被触摸。

2.根据权利要求1所述的多触摸按键检测方法，其特征在于，在扫描驱动触摸电极的过程中，当只有一个触摸电极的电容变大时，则认为该触摸电极被触摸；当无触摸电极电容变大时，则认为无触摸电极被触摸。

3.根据权利要求1或2所述的多触摸按键检测方法，其特征在于，检测触摸电极的电容是否变大的方法为：预设一个差值门限，若电容的变化值超出差值门限，则认为触摸电极上的电容变大。

4.根据权利要求1或2所述的多触摸按键检测方法，其特征在于，所述标定值的预设方法为：在触摸电极无水无触摸时，分别取不同的触摸电极作为标定电极执行标定步骤，直到所有触摸电极的标定值均预设完成；

所述标定步骤包括：将所有触摸电极及屏蔽电极连接的MCU引脚均切换为普通IO引脚功能，并推挽输出低电平；将标定电极连接的MCU引脚切换为ADC悬空输入状态，其他引脚拉高，检测标定电极上的电平，并设置为标定值。

5.根据权利要求4所述的多触摸按键检测方法，其特征在于，所述标定值在出厂时或上电时进行预设。

6.根据权利要求5所述的多触摸按键检测方法，其特征在于，在扫描驱动触摸电极的过程中，间隔时间周期在触摸电极无水无触摸时，对标定值进行记录并更新。

7.一种MCU，其特征在于，用于多触摸按键检测，包括触摸按键检测单元、检测判断单元及IO引脚，所述触摸按键检测单元与检测判断单元共用IO引脚；所述IO引脚在扫描驱动时输出驱动信号或屏蔽信号，在涉水检测时切换为普通IO引脚功能；所述触摸按键检测单元用于扫描检测各触摸电极的电容；所述检测判断单元用于在同时检测到至少两个触摸电极的电容变大时，对电容变大的触摸电极进行涉水检测，所述检测判断单元包括ADC，ADC连接所述IO引脚，ADC模块用于检测待测电极电平；所述检测判断单元用于先将所有触摸电极及屏蔽电极所连接的IO引脚均切换为普通IO引脚功能，并推挽输出低电平，再将待测电极连接的引脚切换为ADC悬空输入状态，其他引脚拉高，对待测电极上的电平进行检测，若电平大于预设的标定值，则认为待测电极上有液滴存在；若电平小于预设的标定值，则认为待测电极被按下。

8.一种多触摸按键检测模块，其特征在于，包括权利要求7所述的MCU、屏蔽电极及两个以上触摸电极，MCU的IO引脚分别与屏蔽电极、各触摸电极连接，所述屏蔽电极铺设在触摸电极周围。

9.一种计算机存储介质，其特征在于，包括软件程序，所述软件程序被处理器执行时可实现如权利要求1至6任一所述的多触摸按键检测方法的步骤。