[发明专利]验证方法、验证装置、电子设备和计算机可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202210644220.2 申请日: 2022-06-08
公开(公告)号: CN115017864A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 上海壁仞智能科技有限公司
主分类号: G06F30/398 分类号: G06F30/398
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 201100 上海市闵行区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 验证 方法 装置 电子设备 计算机 可读 存储 介质
【说明书】:

一种验证方法、验证装置、电子设备和计算机可读存储介质。该验证方法适用于包括验证对象以及与验证对象交互的多个验证模块的系统,该验证方法包括:获取验证配置信息,其中,验证配置信息包括验证对象的属性信息、多个验证模块的属性信息和多个验证模块之间的访问信息;基于验证配置信息,将验证对象与多个验证模块通信连接、生成验证环境以及创建测试用例;利用测试用例、多个验证模块和验证环境,对验证对象进行验证。该方法可以减少相关人员的工作量,提高效率,并且提高工作质量,减少出错。

技术领域

本公开的实施例涉及一种验证方法、验证装置、电子设备和计算机可读存储介质。

背景技术

SOC(System On a Chip)芯片为系统级芯片,也称为片上系统,是在单一硅芯片上实现一个系统所具有的信号采集、转换、存储、处理和输入、输出(I/O)等功能的电路。对SOC芯片进行验证是保证芯片功能正常运行的重要工作。

发明内容

本公开至少一个实施例提供一种验证方法,适用于包括验证对象以及与所述验证对象交互的多个验证模块的系统,所述验证方法包括:获取验证配置信息,其中,所述验证配置信息包括所述验证对象的属性信息、所述多个验证模块的属性信息和所述多个验证模块之间的访问信息;基于所述验证配置信息,将所述验证对象与所述多个验证模块通信连接、生成验证环境以及创建测试用例;利用所述测试用例、所述多个验证模块和所述验证环境,对所述验证对象进行验证。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,获取验证配置信息,包括:解析所述验证对象以获得所述验证对象的属性信息,其中,所述验证对象的属性信息包括模块层次信息和端口信息。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,解析所述验证对象,包括:解析所述验证对象的寄存器传输级文件。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,获取所述验证配置信息,还包括:解析所述多个验证模块以获得所述多个验证模块的属性信息,其中,所述验证模块的属性信息包括带宽信息和端口连接信息。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,所述端口连接信息包括所述验证模块在所述验证对象上的连接位置信息。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,获取所述验证配置信息,还包括:通过解析所述多个验证模块之间的访问关系得到所述访问信息,其中,所述访问信息包括作为访问发起方的每个验证模块对作为访问响应方的每个验证模块的访问权限、所述作为访问响应方的每个验证模块各自可被访问的地址空间和/或所述作为访问发起方的每个验证模块各自允许访问的地址空间。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,基于所述验证配置信息,将所述验证对象与所述多个验证模块通信连接,包括:根据所述多个验证模块的属性信息,实例化所述多个验证模块,并生成所述多个验证模块的配置代码;将所述多个验证模块的实例连接至所述验证对象。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,将所述多个验证模块实例连接至所述验证对象,包括:通过将所述连接位置信息与所述验证对象的所述端口信息进行匹配,确定验证对象的与所述多个验证模块的通信连接关系;基于所述通信连接关系,生成连接代码,以将所述多个验证模块实例连接至所述验证对象。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,创建所述测试用例,包括:创建通路测试用例、网络拥塞测试用例和协议遍历测试用例中的至少一者。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,创建所述测试用例,还包括:根据所述多个验证模块的属性信息和所述多个验证模块之间的访问信息,生成所述通路测试用例、网络拥塞测试用例和协议遍历测试用例中的至少一者。

例如,在本公开一实施例提供的验证方法中,生成所述验证环境,包括:根据所述多个验证模块的属性信息,生成验证结果模块、生成所述多个验证模块与所述验证结果模块之间的连接信息以及生成验证覆盖率信息。

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