[发明专利]基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置和显示方法在审
申请号: | 202210642142.2 | 申请日: | 2022-06-07 |
公开(公告)号: | CN115145037A | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
发明(设计)人: | 夏新星;米朋飞;杨馥荣;王维森;孙明;杨帮华;高守玮;郑华东;于瀛洁 | 申请(专利权)人: | 上海大学 |
主分类号: | G02B27/01 | 分类号: | G02B27/01 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙) 31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 视场 扫描 拼接 分辨 全息 显示装置 显示 方法 | ||
1.一种基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于:包括点光源(100)、准直透镜(110)、反射镜(120)、反射镜旋转系统(130)、分束器(140)、空间光调制器(150)、中继光学系统(160)、总控制器(170),构成虚拟现实式全息近眼显示装置;其中:
点光源(100)用于提供照明光;
准直透镜(110)的前焦面设有点光源(100),用于产生宽光束平行光;
反射镜(120)将平行光进行反射,其与反射镜旋转系统(130)相连;
反射镜旋转控制系统(130),用于控制反射镜(120)进行二维旋转,该反射镜旋转系统(130)与总控制器(170)连接;
分束器(140)将准直透镜(110)准直的平行光反射照射到空间光调制器的有效工作区域上;
空间光调制器(150)对照射在上面的不同角度平行光进行衍射调制,其与总控制器(170)相连接;
中继光学系统(160)将空间光调制器成像到人眼瞳孔附近,保证空间光调制器和人眼瞳孔面基本成共轭关系;
总控制器(170)用于计算反射镜(120)旋转的方向和角度,以及空间光调制器(150)上所需加载的相应全息图序列,并对其进行同步控制。
2.根据权利要求1所述的基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于:还包括合光器(180),位于所述中继光学系统(160)之后,用于让外界光直接透过进入人眼,构成增强现实式全息近眼显示装置;
所述的点光源(100)是光纤耦合激光器的输出端,或者是窄带宽的LED点光源,或者是LED点光源加窄带滤光片;
所述的准直透镜(110)是单透镜、双胶合透镜或多个透镜组成的准直透镜组;由点光源(100)发出相干光,经空间滤波器滤波后,由准直透镜(110)扩束准直形成宽光束的平行光;
所述的反射镜(120)是能够二维旋转的反射镜或扫描振镜,或音圈反射镜;所述的反射镜(120)与相应的反射镜旋转控制系统(130)相连,用于改变照射到空间光调制器(150)上的平行光的方向;
所述的分束器(140)是平板分束镜或块状分束棱镜,分束器(140)前能够设置偏振片,用于调节光束偏振态与空间光调制器(150)相匹配;
所述的空间光调制器(150)为反射型空间光调制器或透射型空间光调制器;
所述的空间光调制器(150)为相位型空间光调制器,或振幅型空间光调制器,或振幅相位混合型空间光调制器。
3.根据权利要求1所述的基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于,所述的中继光学系统(160)由第一中继透镜(161)和第二中继透镜(162)组成的4f光学中继系统,将空间光调制器(150)成像到人眼瞳孔附近。
4.根据权利要求3所述的基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于,所述的中继光学系统(160)中的第一中继透镜(161)和第二中继透镜(162)的光轴重合,第一中继透镜(161)的后焦点与第二中继透镜(162)的前焦点重合;第一中继透镜(161)是单透镜、双胶合透镜或多个透镜组成的透镜组;第二中继透镜(162)是单透镜、双胶合透镜或多个透镜组成的透镜组。
5.根据权利要求2所述的基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于,所述的合光器(180)是由分束器和透镜,或分束器和凹面反射镜构成的合光系统。
6.根据权利要求2所述的基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于,所述的合光器(180)是半透半反的曲面合光器或者具有类似功能的全息光学元件。
7.根据权利要求1所述的基于视场扫描拼接的大视场角高分辨全息近眼显示装置,其特征在于,将第二中继光学系统(450)设于第二空间光调制器(470)与反射镜(120)之间,反射镜(120)的旋转中心位置通过第二中继光学系统(450)与第二空间光调制器(470)共轭;所述的第二中继光学系统(450)是两个透镜或透镜组组成的4f中继光学系统,两个透镜或透镜组之间的焦点位置重合。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海大学,未经上海大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210642142.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。