[发明专利]一种古青瓷釉烧温度的无损测试方法在审
| 申请号: | 202210587390.1 | 申请日: | 2022-05-26 |
| 公开(公告)号: | CN114965433A | 公开(公告)日: | 2022-08-30 |
| 发明(设计)人: | 王甜;王敏力;王芬;朱建锋;张佩;任肇;杨驰;梁家祥 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
| 主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 范巍 |
| 地址: | 710021*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 青瓷 温度 无损 测试 方法 | ||
本发明公开了一种古青瓷釉烧温度的无损测试方法,属于无机非金属材料技术领域。使用显微共聚焦拉曼光谱仪对青瓷釉面的玻璃相进行结构分析,不需要对样品进行制样,选择合适的测试参数,采集青瓷釉面的玻璃相的拉曼光谱,对其去除基线和平滑处理之后进行解卷积,计算500cm‑1处的弯曲振动模式和1000cm‑1处的拉伸振动模式的两个包络峰面积比得到玻璃相的拉曼聚合度,由此确定青瓷的釉烧温度。
技术领域
本发明属于无机非金属材料技术领域,具体为一种古青瓷釉烧温度的无损测试方法,使用无损显微聚焦微拉曼光谱技术测试古代青瓷的釉烧温度。
背景技术
青瓷是中国历史上出现最早的瓷器品种,在我国陶瓷发展史上起到了举足轻重的作用,历史上涌现了许多生产青瓷的名窑,如越窑、临汝窑以及耀州窑等。青瓷的釉烧温度是决定釉色的一个重要的因素,反映了工艺特点和时代发展规律,但目前测试古代青瓷的釉烧温度常用的方法是高温热膨胀计法和高温显微镜法,此类方法制样过程复杂,对样品产生了极大的破坏,对青瓷会造成不可逆的损伤,非常不适用于珍贵的古代青瓷。
针对上述问题,有必要设计一种古青瓷的无损检测方法,实现古青瓷釉烧温度的检测,同时解决对古青瓷损伤的问题。
发明内容
针对现有技术中存在的问题,本发明提供一种古青瓷釉烧温度的无损测试方法,使用无损技术测量古代青瓷的釉烧温度,解决了现有测量过程中对古青瓷的损伤问题。
本发明是通过以下技术方案来实现:
一种古青瓷釉烧温度的无损测试方法,包括以下步骤:
步骤1、对瓷釉的玻璃相结构进行多次测量,获取瓷釉玻璃相的拉曼光谱数据;
步骤2、将每次测量获得的玻璃相的拉曼光谱数据制成拉曼光谱曲线,然后对所有的拉曼光谱数曲线进行拟合得到拟合光谱曲线;
步骤3、根据拟合光谱曲线得到弯曲振动模式下的包络面积和拉伸振动模式下的包络面积,根据弯曲振动模式的包络面积和拉伸振动模式的包络面积比确定拉曼聚合度Ip值,根据拉曼聚合度Ip值确定青瓷的釉烧温度。
优选的,执行步骤1对待测样品进行清洗。
优选的,步骤1中采用拉曼光谱仪对瓷釉的玻璃相结构进行测量。
优选的,所述拉曼光谱仪的测量参数如下:
激光波长为532nm,激光束的功率为3.35mW,在50倍长焦物镜上聚焦并收集散射光,光斑尺寸约2~3μm,波数范围为100~2000cm-1,一次累积散射光积分时间为60s。
优选的,步骤2中采用高斯函数对拉曼光谱数曲线进行拟合。
优选的,步骤3中根据拟合光谱曲线得到每次测量的弯曲振动模式下的包络面积和拉伸振动模式下的包络面积。
优选的,分别对所有弯曲振动模式下的包络面积和拉伸振动模式下的包络面积进行求和,根据求和得到的弯曲振动模式下的总包络面积和拉伸振动模式下的总包络面积之比确定聚合度Ip值。
与现有技术相比,本发明具有以下有益的技术效果:
本发明提供的一种古青瓷釉烧温度的无损测试方法,采用无损显微聚焦微拉曼光谱技术采集青瓷玻璃相的拉曼光谱并对其进行解卷积计算,得到玻璃相的聚合度Ip值,由此推测青瓷的釉烧温度。目前通过无损显微聚焦微拉曼光谱技术对唐代至元代耀州窑青瓷的玻璃相进行了研究,这里的无损指的是并不需要复杂的制样过程,另外在测试过程中的激光作用于瓷器釉面并不会破坏其内部结构,这为古代青瓷的釉烧温度的测量提出了新的思路,对研究青瓷的科学与艺术价值具有非常重要的意义。
附图说明
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