[发明专利]一种极简高可靠性基准产生和内部电源产生电路有效

专利信息
申请号: 202210565999.9 申请日: 2022-05-24
公开(公告)号: CN114661084B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 谭在超;陈朝勇;罗寅;张胜;丁国华 申请(专利权)人: 苏州锴威特半导体股份有限公司
主分类号: G05F1/56 分类号: G05F1/56
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 毕东峰
地址: 215600 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 极简高 可靠性 基准 产生 内部 电源 电路
【权利要求书】:

1.一种极简高可靠性基准产生和内部电源产生电路,其特征在于,所述电路包括:

极简稳压模块,用于产生内部电源电压VDD;

运放跟随器和偏置电压产生模块,用于提供给其它模块做偏置;

偏置电流产生模块,用于设置不同比例镜像给其它模块使用;

内部电源电压给运放跟随器和偏置电压产生模块供电、偏置电流产生模块供电;

其中所述极简稳压模块包括:

启动支路,启动支路包括电阻R1、二极管D1、二极管D2、稳压管Zener1;

分压支路,分压支路包括PMOS管P7、三极管D3、三极管D4、三极管D5、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、三极管D6及三极管D7;

还包括NMOS管N6、PMOS管P8;

电阻R1的一端连接NMOS管N6的漏端和PMOS管P8的源端,电阻R1的另一端连接NMOS管N6的栅端和PMOS管P8的漏端,NMOS管N6的源端连接电容C1的一端,电容C1的另一端接地,PMOS管P8的漏端与电阻R1的连接点连接二极管D1的阳极,二极管D1的阴极连接二极管D2的阳极,二级管D2的阴极连接稳压管Zener1的阴极,稳压管Zener1的阳极接地,PMOS管P8的栅端连接PMOS管P7的栅端,PMOS管P8的源端与PMOS管P7的源端连接,PMOS管P7的漏端连接三极管D3的集电极,三极管D3的集电极与基极连接,三极管D3的发射极连接三极管D4的集电极,三极管D3的集电极连接二极管D2的阴极与稳压管Zener1的阴极,三极管D4的集电极与基极连接,三极管D4的发射极连接三极管D5的集电极,三极管D5的集电极与基极连接,三极管D5的发射极连接电阻R2的一端,电阻R2的另一端连接电阻R3的一端,电阻R3的另一端连接电阻R4的一端,电阻R4的另一端连接电阻R5的一端,电阻R5的另一端连接电阻R6的一端,电阻R6的另一端连接三极管D6的集电极,三极管D6的集电极和基极连接,三极管D6的发射极连接三极管D7的集电极,三极管D7的集电极和基极连接,三极管D7的发射极接地。

2.根据权利要求1所述的一种极简高可靠性基准产生和内部电源产生电路,其特征在于,所述运放跟随器和偏置电压产生模块包括PMOS管P1、PMOS管P2、PMOS管P3、NMOS管N1、NMOS管N2、NMOS管N3、三极管npn1、电阻R7、电阻R8及电阻R9,PMOS管P1的栅端连接PMOS管P2的栅端,PMOS管P1的栅端与漏端连接,PMOS管P1的源端连接PMOS管P2的源端,PMOS管P1的漏端连接NMOS管N1的漏端,PMOS管P2的漏端连接NMOS管N3的栅端和NMOS管N2的漏端,NMOS管N1的源端与NMOS管N2的源端相连并连接于三极管npn1的集电极,NMOS管N1的栅端连接电阻R4与电阻R5的连接点,三极管npn1的发射极接地,三极管npn1的基极连接三极管D7的集电极,PMOS管P2的源端连接PMOS管P3的源端,PMOS管P3的栅端与漏端连接,PMOS管P3的漏端连接NMOS管N3的漏端,NMOS管N3的源端连接电阻R7的一端,电阻R7的另一端连接电阻R8的一端,电阻R8的另一端连接电阻R9的一端,电阻R9的另一端接地,NMOS管N2的栅端连接电阻R7与电阻R8的连接点。

3.根据权利要求2所述的一种极简高可靠性基准产生和内部电源产生电路,其特征在于,所述偏置电流产生模块包括PMOS管P4、PMOS管P5、NMOS管N4,PMOS管P4的源端连接PMOS管P3的源端和PMOS管P5的源端,PMOS管P4的栅端连接PMOS管P3的栅端和PMOS管P5的栅端,PMOS管P4的漏端连接NMOS管N4的漏端,NMOS管N4的漏端与栅端相连,NMOS管N4的源端接地。

4.根据权利要求3所述的一种极简高可靠性基准产生和内部电源产生电路,其特征在于,所述电路还包括NMOS管N5、PMOS管P6,NMOS管N5的漏端连接PMOS管P6的漏端,PMOS管P6的漏端与栅端连接,PMOS管P6的栅端连接PMOS管P7的栅端,PMOS管P6的源端连接PMOS管P7的源端。

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