[发明专利]基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计在审
申请号: | 202210548839.3 | 申请日: | 2022-05-20 |
公开(公告)号: | CN115031858A | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 李建欣;刘一轩;马世帮;杨坤;郭仁慧;马骏;朱日宏;何勇;王青 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 朱炳斐 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 多级 干涉 波段 波长 | ||
1.一种基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述宽波段波长计包括沿主光路方向依次共轴设置的光纤端口(1)、凹面反射镜(2),沿第一子光路依次共轴设置的第一平面反射镜(3)、Fizeau单级腔(4)、第一柱面镜(5)和第一线阵探测器(6),以及沿第二子光路依次共轴设置的第二平面反射镜(7)、Fizeau多级腔(8)、第二柱面镜(9)和第二线阵探测器(10);所有光学元件相对于仪器底座平面同轴等高;
光纤端口(1)发出的光经凹面反射镜(2)后,以平行光入射至第一反射镜(3)与第二反射镜(7),在第一子光路中,平行光经第一反射镜(3)反射后入射至Fizeau单级腔(4)中发生干涉,之后从Fizeau单级腔(4)后底面出射经第一柱面镜(5)聚焦至第一线阵探测器(6);在第二子光路中,平行光经第二反射镜(7)反射后入射至Fizeau多级腔(8)中发生干涉,之后从Fizeau多级腔(8)后底面出射经第二柱面镜(9)聚焦至第二线阵探测器(10)。
2.根据权利要求1所述的基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述光纤端口(1)位于凹面反射镜(2)的焦点位置处。
3.根据权利要求1所述的基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述Fizeau单级腔(4)包括沿第一子光路方向依次设置且胶合的第一基板(41)、第一空心圆柱(42)和第一盖板(43);所述第一基板(41)的后底面镀部分反射部分透射膜;第一盖板(43)的前底面镀部分反射部分透射膜。
4.根据权利要求3所述的基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述第一空心圆柱(42)的前后底面存在一定夹角。
5.根据权利要求1所述的基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述Fizeau多级腔(8)包括沿第二子光路方向依次设置且胶合的第二基板(81)、第二空心圆柱(83)和第二盖板(84),所述第二空心圆柱(83)内设有阶梯镜(82);第二基板(81)后底面与阶梯镜(82)前底面相胶合;所述阶梯镜(82)后底面镀部分反射部分透射膜;第二盖板(84)的前底面镀部分反射部分透射膜。
6.根据权利要求5所述的基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述第二空心圆柱(83)的前后底面存在一定夹角。
7.根据权利要求5所述的基于多级斐索干涉腔的宽波段波长计,其特征在于,所述阶梯镜(82)包括从上至下依次堆叠的第一阶梯至第四阶梯,每个阶梯的横截面为矩形,该矩形沿光束的截面方向的边为短边,沿光束方向的边为长边,每个阶梯的短边与第二基板(81)胶合。
8.根据权利要求7所述的单通道型多级斐索波长测量装置,其特征在于,所述第一阶梯至第四阶梯的宽度相同,第一阶梯至第四阶梯的长度依次增大。
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