[发明专利]一种集成电路静态参数测试设备

权利要求书

1.一种集成电路静态参数测试设备，包括检测传送带(1)，其特征在于：还包括送料传送带(11)、送料液压缸(12)、送料装置、固定装置、检测装置以及输送传送带(13)；

所述送料传送带(11)设置在所述检测传送带(1)的一侧，所述输送传送带(13)设置在所述检测传送带(1)的另一侧，所述送料液压缸(12)的外表面通过连接板与所述送料传送带(11)的框架外表面固定安装；

送料装置，所述送料装置位于所述检测传送带(1)的一侧，所述送料装置包括驱动机构、盛放机构、开合机构以及滚轮(35)，所述驱动机构驱动所述盛放机构进行升降，所述盛放机构包括用于盛放的盛放架(24)以及推动液压缸(26)，所述推动液压缸(26)的推动将所述盛放架(24)内的集成电路输送进入滚轮(35)上，所述开合机构对所述盛放机构内需要检测的集成电路板进行固定，通过所述滚轮(35)将所述盛放机构内的集成电路板输送进入所述检测传送带(1)上；

固定装置，所述固定装置位于所述检测传送带(1)的一侧，所述固定装置包括转向机构和固定机构，所述转向机构对所述固定机构进行转向，所述固定机构对所述检测传送带(1)上的集成电路板进行固定工作；

检测装置，所述检测装置包括用于调节的调节液压缸(61)以及检测头(62)，所述检测装置位于所述检测传送带(1)的框架外表面，所述调节液压缸(61)调节所述检测头(62)距离检测集成电路板之间的间距。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路静态参数测试设备，其特征在于：所述驱动机构包括驱动箱体(2)，所述驱动箱体(2)的下表面与所述检测传送带(1)的底板上表面固定安装，所述驱动箱体(2)的上表面两侧通过轴承均固定安装有丝杆(21)，所述驱动箱体(2)的内底壁固定安装有双轴电机(22)，所述双轴电机(22)的输出轴一端通过锥齿轮组驱动两个所述丝杆(21)转动，所述检测传送带(1)的框架外侧面固定安装有送料架(23)，所述丝杆(21)的两端通过轴承与所述送料架(23)的外表面固定安装。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路静态参数测试设备，其特征在于：多个所述盛放架(24)的外侧面通过滑块均与两个所述丝杆(21)的外表面螺纹连接，所述盛放架(24)的内壁两侧均转动连接有滚珠(25)。

4.根据权利要求2所述的一种集成电路静态参数测试设备，其特征在于：所述送料架(23)的上表面与所述推动液压缸(26)的外表面固定安装，所述推动液压缸(26)的活塞杆一端固定安装有推板(27)。

5.根据权利要求2所述的一种集成电路静态参数测试设备，其特征在于：所述开合机构包括围板(3)，两个所述围板(3)通过销轴铰接在所述盛放架(24)的一侧外表面，所述围板(3)的销轴外表面设置有扭簧(31)，所述围板(3)的销轴两端固定安装有L型块(32)，所述送料架(23)的上表面和所述输送传送带(13)的框架上表面均固定安装有推动架(33)，所述推动架(33)的外表面安装有推动杆(34)，所述推动杆(34)的一端与所述L型块(32)的外表面滑动插接，多个所述滚轮(35)的两端与所述送料架(23)的上表面转动连接。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路静态参数测试设备，其特征在于：所述转向机构包括支撑架(4)，所述支撑架(4)的下表面与所述检测传送带(1)的底板上表面固定安装，所述支撑架(4)的顶板下表面固定安装有转向电机(41)，所述转向电机(41)的输出轴一端固定安装有限位环(42)，所述限位环(42)的下表面固定安装有推臂(43)，所述支撑架(4)的上表面通过轴承固定安装有槽轮(44)，所述槽轮(44)的外表面与所述限位环(42)的外表面滑动插接，所述推臂(43)的一端与所述槽轮(44)的内壁滑动插接。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路静态参数测试设备，其特征在于：所述槽轮(44)的上表面固定安装有转盘(45)，所述转盘(45)的上表面固定安装有升降液压缸(46)。