[发明专利]一种用于ADC失调值的检测系统

说明书

本发明公开了一种用于ADC失调值的检测系统，包括：模拟输入信号AINX发送模块，由至少n个电阻相互串联组成，每两个电阻之间包括两个第一开关，两个第一开关之间包括模拟输入信号AINX输出端，模拟输入信号AINX输出端用于为待测ADC提供模拟输入信号AINX，其中，n表示大于等于8的偶数；ADC失调值检测模块，用于通过采集具有模拟输入信号AINX的待测ADC的输出码值DX，根据待测ADC的本身失调值VOS_adc，生成待测ADC的ADC失调值，其中，输出码值DX用于表示待测ADC接收到模拟输入信号AINX后，产生的输出信号；本发明提供的测试ADC失调算法结合电阻分压和循环测试的方式实现将电阻本身失调消除来得到ADC的精确失调值。

技术领域

本发明涉及ADC失调值检测领域，尤其涉及一种用于ADC失调值的检测系统。

背景技术

ADC，即模数转换器，通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件。通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号。由于数字信号本身不具有实际意义，仅仅表示一个相对大小。故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准，比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小。而输出的数字量则表示输入信号相对于参考信号的大小。

现有技术中，测试内部ADC失调值的方法通常是将参考电压用电阻串分压，然后再将分压信号传给ADC转换得到结果之后再得出ADC失调值。

这种方法的不足之处在于电阻本身存在失调，导致得到的ADC失调值并不准确。CMOS工艺电阻匹配最多到6位精度，在10位，12位ADC里面用简单的电阻分压方式测ADC失调值会存在较大的误差。

发明内容

为了解决现有技术中存在的问题，本发明提供了一种用于ADC失调值的检测系统，包括：

模拟输入信号AINX发送模块，由至少n个电阻相互串联组成，每两个电阻之间包括两个第一开关，两个第一开关之间包括模拟输入信号AINX输出端，模拟输入信号AINX输出端用于为待测ADC提供模拟输入信号AINX，其中，n表示大于等于8的偶数；

ADC失调值检测模块，用于通过采集具有模拟输入信号AINX的待测ADC的输出码值DX，根据待测ADC的本身失调值VOS_adc，生成待测ADC的ADC失调值，其中，输出码值DX用于表示待测ADC接收到模拟输入信号AINX后，产生的输出信号。

优选地，模拟输入信号AINX发送模块的每个电阻的阻值相同。

优选地，每个电阻和第一开关之间还包括用于控制电压源输入的第二开关。

优选地，每两个电阻之间的两个第一开关同时断开，其他第一开关同时闭合，形成两条相互并联的电路，每条电路由数量相同的电阻组成。

优选地，模拟输入信号AINX发送模块的第一开关不能同时闭合，其中，模拟输入信号AINX发送模块包括两个同时断开的第一开关。

优选地，断开的第一开关，与电阻之间设置的第二开关闭合，其他第二开关断开。

优选地，两条电路电性连接的模拟输入信号AINX输出端，生成模拟输入信号AINX。

优选地，模拟输入信号AINX发送模块，由8个电阻相互串联组成；

每两个电阻之间的两个第一开关同时断开，其他第一开关同时闭合，形成两条相互并联的电路，每条电路由4个电阻串联组成，其中，断开的第一开关，与电阻之间设置的第二开关闭合，其他第二开关断开；

两条电路电性连接的模拟输入信号AINX输出端，生成模拟输入信号AINX。

优选地，ADC失调值检测模块获取ADC失调值的过程，包括以下步骤：

依次控制两个电阻之间的两个第一开关同时断开，同时闭合其他第一开关；