[发明专利]光学调整装置、光学调整方法以及光器件

说明书

本公开提供一种光学调整装置、光学调整方法以及光器件。光学调整装置具备：测定光照射部，具有多个第2光纤，经由多个第2光纤将具有单一波长的多个光在相互不同的定时射出；光纤块，对第1光纤以及多个第2光纤的射出侧端部进行保持；光检测部，经由多个第2光纤对多个反射光进行受光并进行检测；倾斜度计算部，对多个反射光中的每个反射光的强度的时间变化相互进行比较，计算光纤块相对于光学基板的倾斜度；和距离计算部，基于至少1个强度的时间变化来计算光学基板与光纤块的端面间距离。

技术领域

本发明涉及光学调整装置、光学调整方法以及光器件。

背景技术

在将光纤相对于保持光纤的基板或形成有波导的基板等连接目标的光器件的光学基板进行连接时，对光纤的光轴进行调整以使得在光学基板的核心中传播的光的强度成为最大。

一边使光纤的射出端面接近光学基板的入射端面一边进行光纤的光轴的调整。若光纤的射出端面与光学基板的入射端面接触，则存在光纤以及光学基板的各端面损伤的担扰。这些端面的损伤会导致从光纤向光学基板的光的传播效率的下降。

由此，为了避免光纤与光学基板的接触，一边测定光纤与光学基板的端面间距离一边进行光纤的光轴调整。

在专利文献1中公开了如下的距离测定装置：从光纤朝向连接目标的光学基板射出波长不同的光，测定来自光学基板的反射光的强度，基于测定出的反射光强度的波长依赖性来计算光纤与光学基板的端面间距离。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2014-228444号公报

发明内容

本公开的一方式涉及的光学调整装置是在将第1光纤与连接目标的光学基板连接时使用的光学调整装置，具备：测定光照射部，具有多个第2光纤，经由所述多个第2光纤将具有单一波长的多个光在相互不同的定时射出；光纤块，对所述第1光纤以及所述多个第2光纤的射出侧端部进行保持；光检测部，经由所述多个第2光纤对由所述光学基板的基板端面反射的与所述多个光对应的多个反射光进行受光并进行检测；倾斜度计算部，对所述多个反射光中的每个反射光的强度的时间变化相互进行比较，基于比较结果来计算所述光纤块相对于所述光学基板的倾斜度；和距离计算部，基于所述多个反射光之中至少1个反射光的强度的时间变化，计算所述光学基板与所述光纤块的端面间距离。

本公开的一方式涉及的光学调整方法是在将第1光纤与连接目标的光学基板连接时进行的光学调整方法，在该光学调整方法中，通过光纤块对所述第1光纤以及测定用的多个第2光纤的射出侧端部进行保持，经由所述多个第2光纤将具有单一波长的多个光在相互不同的定时射出，经由所述多个第2光纤对由所述光学基板的基板端面反射的与所述多个光对应的多个反射光进行受光并进行检测，对所述多个反射光中的每个反射光的强度的时间变化相互进行比较，基于比较结果来计算所述光纤块相对于所述光学基板的倾斜度，基于所述多个反射光之中至少1个反射光的强度的时间变化，计算所述光学基板与所述光纤块的端面间距离。

本公开的一方式涉及的光器件具备：第1光纤；光学基板，具有波导，并且是所述第1光纤的连接目标；和光纤块，固定于所述光学基板，所述光纤块对所述第1光纤进行保持，具有相互连结的多个线构成三角形的多个插通孔。

附图说明

图1是示出实施方式涉及的光学调整装置的概略图。

图2是示出被实施方式涉及的光纤块保持的光纤的位置关系的图。

图3是示出实施方式涉及的光学调整装置执行的光学调整的过程的流程图。

图4是示出由光检测部得到的反射光的检测结果的一个例子的图。

图5是示出从第2光纤射出的光被光学基板的基板端面反射而作为反射光返回的样子的图。