[发明专利]转光设备、存储介质和测试系统

说明书

本申请涉及一种转光设备、存储介质和测试系统，该转光设备包括处理器和至少两个光转换模块，其中，光转换模块包括衰减子模块；处理器分别与每个光转换模块连接，每个光转换模块分别与待测试通信设备的同轴接口和测试设备的光口连接；处理器，用于根据用户输入的测试参数从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。该转光设备内部设置有多路可调节衰减值的光转换模块，在实际测试过程中，无需再引入额外的可调衰减器，仅需通过短同轴线缆连接FC通信设备的同轴端口和转光设备的同轴端口即可实现对同轴接口的信号收发的功能测试，测试成本低，测试过程简易，测试效率高。

技术领域

本申请涉及光纤通信和测试技术领域，特别是涉及一种转光设备、存储介质和测试系统。

背景技术

光纤通道（Fiber Channel，简称FC）总线技术具备传输速度高、延时低、传输距离远、可靠性高等特性，主要应用于航空航天和军工电子系统的通信网络技术领域。在实际应用中，通信设备采用FC总线技术进行通信时，对通信性能要求较高，需要对FC通信设备的通信性能进行测试。

传统的FC通信设备具有两种不同形式的对外端口，即FC光口和FC同轴口。由于测试设备的通信端口为光口，因此在对同轴口的FC通信设备进行测试时，需要使用同轴转光设备将FC通信设备输出的同轴信号转换为光信号，再输入测试设备用于对FC通信设备进行测试。

在通过同轴转光设备对同轴口的FC通信设备进行测试时，FC通信设备连接的外部设备较多，例如，FC通信设备的每一个同轴端口都需要通过多个可调衰减器与同轴转光设备的同轴端口连接。在测试过程引入过多的外部设备，不仅增加测试成本还会导致测试过程繁琐，进而造成FC通信设备的测试效率较低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种针对具有同轴口的FC通信设备的测试过程中，能够减少外部设备的连接、降低测试成本、简化测试过程、进而能够提高测试效率的转光设备、存储介质和测试系统。

第一方面，本申请提供了一种转光设备，该转光设备包括：处理器和至少两个光转换模块，其中，光转换模块包括衰减子模块；

处理器分别与每个光转换模块连接，每个光转换模块分别与待测试通信设备的同轴接口和测试设备的光口连接；

处理器，用于根据用户输入的测试参数从多个光转化模块中确定目标光转换模块，并根据测试参数对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。

在其中一个实施例中，上述用户输入的测试参数包括待配置光转换模块和目标衰减值；

处理器，具体用于根据目标衰减值和待配置光转换模块的衰减值阈值，确定目标光转换模块，以及目标光转换模块对应的待配置衰减值；

根据目标光转换模块对应的待配置衰减值，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。

在其中一个实施例中，在该目标衰减值不大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块为目标光转换模块，该目标衰减值为目标光转换模块对应的待配置衰减值。

在其中一个实施例中，在目标衰减值大于待配置光转换模块的衰减值阈值的情况下，确定待配置光转换模块以及待配置光转换模块级联的光转换模块为目标光转化模块；

将待配置光转换模块的衰减值阈值作为待配置光转换模块对应的待配置衰减值，以及将目标衰减值与待配置光转换模块的衰减值阈值之差作为待配置光转换模块级联的光转换模块对应的待配置衰减值。

在其中一个实施例中，处理器，具体用于控制目标光转换模块的衰减子模块为衰减模式，并在衰减模式下，对目标光转换模块的衰减子模块进行衰减值配置。

在其中一个实施例中，每个光转换模块的衰减子模块的默认模式为bypass模式，在bypass模式下衰减子模块作为无衰减的信号传输模块。