[发明专利]一种基于面老化的绝缘加速老化试验方法在审
申请号: | 202210488610.5 | 申请日: | 2022-05-06 |
公开(公告)号: | CN114859191A | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 曹培;周谷亮;廖巍;徐鹏;薛娜娜;张嵩;季怡萍;王劭菁;邓先钦 | 申请(专利权)人: | 国网上海市电力公司;华东电力试验研究院有限公司 |
主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01N21/3563;G01K13/00 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 翁惠瑜 |
地址: | 200122 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 老化 绝缘 加速 老化试验 方法 | ||
1.一种基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,包括以下步骤:
制作绝缘样片,获取绝缘样片的初始的电气参量;
以设定安装方式将所述绝缘样片放置入加速老化试验箱,该加速老化试验箱包括用于装配绝缘样片的面老化电极单元,所述面老化电极单元包括平行放置的两个指形电极,两个指形电极的中心距根据测试电压和绝缘样片的尺寸确定;
设置所述加速老化试验箱内的高温高湿环境参数,并控制所述面老化电极单元产生高场强,进行电-热-湿加速老化试验,在每个试验周期后测量绝缘样片的实时的电气参量,直至绝缘样片发生放电击穿;
对放电击穿的绝缘样片开展红外光谱和玻璃化转变温度测试;
基于各试验周期的电气参量,获得绝缘材料基于电-热-湿的老化特征曲线。
2.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述电气参量包括绝缘样片的体积电阻率、相对介电常数、介质损耗因数和局放量。
3.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述两个指形电极的中心距为40-50mm。
4.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述绝缘样片设有多个,各所述绝缘样片均匀布置,在各所述绝缘样片均发生放电击穿后结束试验。
5.根据权利要求4所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,各所述绝缘样片的中心距离为100-120mm。
6.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述高温高湿环境参数具体为:恒定温度设为90℃,恒定湿度设为80%RH。
7.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述加速老化试验箱连接有用于提供测试电压的长时耐压试验装置。
8.根据权利要求7所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述加速老化试验箱通过单相穿墙套管与长时耐压试验装置连接。
9.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述加速老化试验箱连接有空气循环装置。
10.根据权利要求1所述的基于面老化的绝缘加速老化试验方法,其特征在于,所述老化特征曲线包括电气参量、红外光谱和玻璃化转变温度的拟合曲线。
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