[发明专利]测试节点配置方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本公开关于一种测试节点配置方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：在展示界面中展示测试节点关联图，所述测试节点关联图中包括至少一个测试节点对，所述测试节点对中包括第一测试节点及第二测试节点，所述第一测试节点的尾部端点与所述第二测试节点的头部端点相连接；响应于用于对待配置测试节点进行属性编辑的操作，在所述展示界面的属性展示区域中展示所述待配置测试节点编辑后的属性信息，所述待配置测试节点为所述测试节点关联图中的任一测试节点。采用本公开实施例可以提高测试效率。

技术领域

本公开涉及测试领域，尤其涉及一种测试节点配置方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在进行产品功能耗时测试时，需要预先设置测试节点，并基于测试节点对应的时间信息，确定各测试节点对应功能的耗时。例如：在测试画面加载耗时时，需要基于画面出现节点在整个测试过程中对应的时间与启动节点在整个测试过程对应的时间之间的差值，实现画面加载耗时的测试。也即，在进行功能耗时测试之前，需要预先设置测试节点之间的关系，方可以基于各测试节点对应的时间信息实现功能耗时测试。

相关技术中，测试节点采用列表的方式进行配置，示例性的，测试节点列表可以参照图1所示。该列表配置和展示测试节点的方式，测试节点之间的交互关系过于分散，无法直接获取测试节点之间的关联关系，进而无法直接获取到完整的测试节点路径，导致测试效率低下。

发明内容

本公开提供一种测试节点配置方法、装置、电子设备及存储介质，以至少解决相关技术中测试效率低下的问题。本公开的技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试节点配置方法，包括：

在展示界面中展示测试节点关联图，所述测试节点关联图中包括至少一个测试节点对，所述测试节点对中包括第一测试节点及第二测试节点，所述第一测试节点的尾部端点与所述第二测试节点的头部端点相连接；

响应于用于对待配置测试节点进行属性编辑的操作，在所述展示界面的属性展示区域中展示所述待配置测试节点编辑后的属性信息，所述待配置测试节点为所述测试节点关联图中的任一测试节点。

在其中一个示例中，所述在展示界面中展示测试节点关联图，包括：

响应于用于选定所述第一测试节点的操作，在展示界面中以第一展示方式展示所述第一测试节点；

响应于用于创建测试节点的操作，在展示界面中所述第一测试节点的下方展示所述第二测试节点。

在其中一个示例中，所述第一测试节点通过连接线与所述第二测试节点相连接，所述连接线的第一端连接所述第一测试节点的尾部端点，所述连接线的第二端连接所述第二测试节点的头部端点，所述方法还包括：

响应于用于确定待调整测试节点对的操作，从所述测试节点关联图中确定所述待调整测试节点对；

响应于对所述待调整测试节点对中所述连接线的调整操作，将所述连接线的目标端调整至连接第三测试节点的目标端点。

在其中一个示例中，所述响应于用于对待配置测试节点进行属性编辑的操作，在所述展示界面的属性展示区域中展示所述待配置测试节点编辑后的属性信息，包括：

响应于用于选中待配置测试节点的操作，在所述展示界面的属性展示区域中展示所述待配置测试节点的属性信息，所述属性展示区域中包括属性配置项，所述属性配置项用于配置所述待配置测试节点的属性信息；

响应于针对目标属性配置项的编辑操作，在所述展示界面中展示所述待配置测试节点编辑后的属性信息。

在其中一个示例中，所述属性配置项包括节点名称配置项、节点图像配置项、节点事件类型配置项、节点测试阈值配置项中的至少一项，