[发明专利]一种显示模组空间位置的光学色差测量方法

说明书

本发明涉及LED显示屏技术领域，尤其是一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，将拼接后的显示模组发光，且确保各个显示模组发出的光的颜色、亮度保持一致；采用光学信号采集设备，采集显示模组发出的光的亮度，并判断相邻的显示模组之间的亮度，还包括分析终端，所述光学信号采集设备将采集的光学信号传输至分析终端，分析终端分析亮度并判断显示模组之间的间距及平整度；本发明所得到的一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，能简单方便的对显示模组之间的间距、平整度进行检测，且转换为调整机构对显示模组进行调节的依据，提升LED显示屏中显示模组的拼接精度。

技术领域

本发明涉及LED显示屏技术领域，尤其是一种显示模组空间位置的光学色差测量方法。

背景技术

LED显示屏的平整度和像素间距误差对显示的效果有直接的影响，主要表现为不同角度观看有亮线和暗线，目前主要靠加工精度来保证，最终的平整度及像素距离精度主要靠目测，由于显示屏比较大，目前没有比较好的测量手段。

如中国发明专利申请，2021101794925，一种小间距LED显示屏拼接工艺的制作方法中，其技术方案涉及：所述LED显示屏拼接组件的拼接前通过测量装置用于获取待安装显示屏的墙体的轮廓，并根据所述墙体的轮廓确定参考平面和位置信息。所述测量装置为全站仪，全站仪扫描待安装的墙体的轮廓，并基于墙体的轮廓确定一个参考平面。所述测量装置为激光跟踪仪。

上述方案中仅可以为拼接组件的安装提供参考平面和位置信息，无法确定拼接后的相邻两个拼接组件之间的间隙，所以无法实现对拼接组件之间的间距及平整度进行测量。同时其仅提供参考平面，会造成拼接组件的加工误差会与安装误差进行叠加，造成误差增大，影响LED显示屏质量。

发明内容

本发明为了解决上述技术不足而提供一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，能精确实时测量显示模组之间的间距和平整度。

本发明公开了一种显示模组空间位置的光学色差测量方法，将拼接后的显示模组发光，且确保各个显示模组发出的光的颜色、亮度保持一致；采用光学信号采集设备，采集显示模组发出的光的亮度，并判断相邻的显示模组之间的亮度，还包括分析终端，所述光学信号采集设备将采集的光学信号传输至分析终端，分析终端分析亮度并判断显示模组之间的间距及平整度；具体分析判断如下：

拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度相同，但相对于其他显示模组而言偏亮，则表示这两个显示模组之间的拼缝偏小；

拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度相同，但相对于其他显示模组而言偏暗，则表示这两个显示模组之间的拼缝偏大；

拼缝处相邻两个显示模组之间的亮度不相同，其中一个显示模组偏亮，另一个显示模组偏暗，则表示偏亮的显示模组位置较高，偏暗的显示模组位置较低。

所述光学信号采集设备的数量为两个以上，每个光学信号采集设备的采集角度不同。

所有光学信号采集设备所采集的光学信号取平均值作为显示模组的光学色差分析判断依据。

采用多个光学信号采集设备进行光学信号采集，并取平均值作为光学色差分析判断依据，可以消除因LED在贴片时产生误差而引起光学信号采集不准确的问题。

上述测量方法中涉及偏大、偏小为相邻两个显示模组之间的间隙与其他相邻显示模组之间的间隙相比较而言，其中涉及偏亮、偏暗是指LED显示屏上两个显示模组之间的亮度比较，其中涉及较高、较低是指两个显示模组的相对位置高度的比较。

拼接后的显示模组发光，其发光包括但不限于可见光、红外光、激光等。要求每个显示模组发出的光的亮度相同，选择所有显示模组发出的光的颜色相同，光学信号采集设备采集光学信号后由分析终端进行分析时精度更高。