[发明专利]一种软件测试覆盖率计算装置及方法

说明书

本发明公开了一种软件测试覆盖率计算装置及方法，装置包括：缺陷植入单元，缺陷植入单元配置为向被测软件中植入缺陷并基于植入的缺陷构建缺陷列表；软件测试覆盖率保证系统，软件测试覆盖率保证系统包括版本管理模块、识别模块和覆盖率计算模块，版本管理模块配置为创建测试版本号并导入对应的缺陷列表；测试单元，测试单元配置为对植入了缺陷的被测软件进行测试，并将测试过程中出现的缺陷录入到缺陷管理系统；识别模块配置为基于对应的缺陷列表识别录入到缺陷管理系统的缺陷；覆盖率计算模块配置为基于识别到的缺陷与对应的缺陷列表中的缺陷计算测试覆盖率。通过本发明的方案，实现了软件测试覆盖率的计算，提高了软件测试质量。

技术领域

本发明涉及软件测试技术领域，尤其涉及一种软件测试覆盖率计算装置及方法。

背景技术

软件测试是保证软件质量的重要方法，在软件的生命周期中占有重要地位。如何保证测试质量、提高测试覆盖率、高效高质量的完成测试都是众多测试管理人员绞尽脑汁的问题。随着软件规模的增大以及对于质量日益增长的要求，如何对于被测软件实现高质量覆盖是亟需解决的问题。

目前，为保证软件测试质量，测试管理人员通常做法是争取充裕的测试时间，保证测试用例的执行率，或根据以往经验，根据bug(缺陷)数量去判断测试的充分性，但是上述方案存在以下问题：

测试用例执行100％并不代表实现100％测试覆盖。越到测试后期，bug的发现越依赖于自由测试，即摆脱测试用例的测试。因而，根据用例覆盖率判断测试覆盖率，判断的准确性不高；

根据bug数量去判断测试充分性的方法，很大程度上依赖于测试管理人员的经验，随机性较强且缺乏理论依据。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种软件测试覆盖率计算装置及方法，以迭代版本为单位，研发人员向不同版本的被测软件随机植入不同等级的缺陷，并将对应的缺陷列表导入软件测试覆盖率保证系统留存。该过程对测试人员保密，在测试人员对各个版本的软件进行测试过程中，系统通过关键字自动识别测试过程中出现的缺陷，并根据出现的缺陷数量和对应的缺陷列表中缺陷的总数，实时计算测试覆盖率，由此提高了软件测试质量。

基于上述目的，本发明实施例的一方面提供了一种软件测试覆盖率计算装置，装置具体包括：

缺陷植入单元，所述缺陷植入单元配置为基于被测软件的版本向被测软件中植入缺陷，并基于植入的缺陷构建缺陷列表；

软件测试覆盖率保证系统，所述软件测试覆盖率保证系统包括版本管理模块、识别模块和覆盖率计算模块，所述版本管理模块配置为基于所述被测软件的版本创建测试版本号，并基于所述测试版本号导入对应的缺陷列表；

测试单元，所述测试单元配置为基于所述被测软件的版本对植入了缺陷的被测软件进行测试，并将测试过程中出现的缺陷录入到缺陷管理系统；

所述缺陷管理系统配置为基于所述被测软件的版本对录入的缺陷进行管理；

所述识别模块配置为基于所述被测版本号和所述对应的缺陷列表识别录入到所述缺陷管理系统的对应版本的被测软件的缺陷；

所述覆盖率计算模块配置为基于识别到的缺陷与对应的缺陷列表中的缺陷计算缺陷覆盖率，并基于所述缺陷覆盖率计算测试覆盖率。

在一些实施方式中，所述识别模块具体配置为：

基于所述被测版本号和所述对应的缺陷列表识别录入到所述缺陷管理系统的对应版本的被测软件的缺陷，并将所述识别到的缺陷与对应的缺陷列表中的缺陷进行比对；

若是所述识别到的缺陷为所述对应的缺陷列表中的缺陷，则记录所述缺陷；

所述覆盖率计算模块具体配置为：

基于记录的缺陷的数量和所述缺陷列表中缺陷的总数，计算缺陷覆盖率；