[发明专利]一种离子源系统和分析系统在审
| 申请号: | 202210453418.2 | 申请日: | 2022-04-27 | 
| 公开(公告)号: | CN114999890A | 公开(公告)日: | 2022-09-02 | 
| 发明(设计)人: | 鲁信琼;刘立秋 | 申请(专利权)人: | 深圳至秦仪器有限公司 | 
| 主分类号: | H01J49/04 | 分类号: | H01J49/04;H01J49/10;G01N27/64;G01N27/68 | 
| 代理公司: | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人: | 陈贤荣 | 
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道*** | 国省代码: | 广东;44 | 
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 | 
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 离子源 系统 分析 | ||
本发明公开了一种离子源系统和分析系统,涉及质量分析检测技术领域。一种离子源系统具体包括可提高待检样品热解后浓度的热解室和与所述热解室连通用于将所述热解室排出的已完成热解的待检样品电离成待检离子并当所述待检离子满足预设浓度后排出的电离室。旨在实现对离子源系统产生的离子进行输出控制。
技术领域
本发明涉及质量分析检测技术领域,特别涉及一种离子源系统和分析系统。
背景技术
目前仪器常用的离子源有电子轰击源(EI)、化学电离源(CI)、电喷雾电离源(ESI)、大气压化学电离源(APCI)和基质辅助激光解吸电离源(MALDI)等。
质量分析仪器由离子源,质量分析系统,离子收集检定系统组成。离子源系统是给被测物提供离子化的系统,只有样品发生了离子化之后才能被质谱检测到,而离子源系统的作用是使被测样品分子电离,在质量分析仪器中占有非常重要的位置,离子源对被测物的离子化能力直接影响整个仪器的测试能力。现有的离子源系统的工作过程为一边电离一边输送离子,无法实现对待检离子的输出控制,常使得质量分析系统无法获取足够浓度的离子而降低了质量分析系统的分析能力。因此如何实现对离子源系统产生的离子进行输出控制,成为了亟待解决的技术难题。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种离子源系统和分析系统,旨在实现对离子源系统产生的离子进行输出控制。
为了实现上述目的,本发明提出一种离子源系统,包括可提高待检样品热解后浓度的热解室和与所述热解室连通用于将所述热解室排出的已完成热解的待检样品电离成待检离子并当所述待检离子满足预设浓度后排出的电离室。
在本申请的一实施例中,所述热解室与所述电离室之间的通道上设有当所述热解室内待检样品热解后浓度满足预设阈值时打开所述通道以使热解完成的待检样品进入电离室的开关件。
在本申请的一实施例中,所述电离室的出口处设有当所述电离室内待检离子的浓度满足预设条件时打开所述电离室的出口以使待检离子排出的离子阀门。
在本申请的一实施例中,所述离子阀门包括:设于所述电离室的出口处并带有电场的第一电极,和与所述第一电极相对设置并可切换至与第一电极相同或不同电场以实现放行或阻隔所述待检离子的第二电极。
在本申请的一实施例中,所述第一电极包括:连接于电离室的出口的第一底板,所述第一底板上设有多个互相平行的第一导电齿;
所述第二电极包括:连接于电离室的出口处并与所述第一底板相对设置的第二底板,所述第二底板上设有多个互相平行的第二导电齿;
所述第一底板上的多个第一导电齿与所述第二底板上的多个第二导电齿之间交错排列且任意第一导电齿与第二导电齿之间均不接触以实现对待检离子阻隔或放行。
在本申请的一实施例中,所述第一导电齿与第二导电齿所在的平面与所述电离室中的待检离子的输出方向互相垂直。
在本申请的一实施例中,定义任意两个相邻的第一导电齿和第二导电齿之间的距离为α,所述2mm≥α≥1mm。
在本申请的一实施例中,所述热解室与所述电离室之间设有将所述热解室与电离室之间的连接通道分隔成两端的伸缩槽,所述开关件设于所述伸缩槽内并可在所述伸缩槽内伸缩运动以打开或关闭所述连接通道。
在本申请的一实施例中,所述热解室内设有对待检样品进行加热的加温板,所述加温板的底部设有用于对所述加温板进行降温的水冷组件。
本申请还公开了一种分析系统,其特征在于,包括如上任意一项所述的离子源系统和设于所述离子源系统的出口处用于对所述离子源系统产生的离子进行分析的分析组件。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳至秦仪器有限公司,未经深圳至秦仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210453418.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





