[发明专利]像素设计方法、装置及电子设备

权利要求书

1.一种像素设计方法，其特征在于，包括：

获取像素设计的设计参数；

根据所述设计参数和已训练的评估模型，确定所述像素设计的性能参数；

根据所述性能参数对所述像素设计进行调整。

2.根据权利要求1所述的像素设计方法，其特征在于，所述获取像素设计的设计参数，具体包括：

响应于用户在图形用户界面上的设计参数输入操作，确定被输入的设计参数；

根据所述设计参数，确定对应的像素设计。

3.根据权利要求1所述的像素设计方法，其特征在于，所述根据所述性能参数对所述像素设计进行调整，具体包括：

在所述图形用户界面的第一预设区域中显示所述性能参数；

响应于用户在所述图形用户界面上对所述设计参数的修改操作，确定修改后设计参数，并利用所述修改后设计参数更新所述设计参数和所述像素设计，之后返回执行所述根据所述设计参数和已训练的评估模型，确定所述像素设计的性能参数的步骤。

4.根据权利要求1所述的像素设计方法，其特征在于，在所述获取像素设计的设计参数之后，还包括：

在所述图形用户界面的第二预设区域中显示所述像素设计。

5.根据权利要求1所述的像素设计方法，其特征在于，在所述根据所述设计参数和已训练的评估模型，确定所述像素设计的性能参数之前，还包括：

获取多个样本像素设计的样本设计参数和样本性能参数；

利用所述样本设计参数和所述样本性能参数，对预设的评估模型进行训练，以得到所述已训练的评估模型。

6.根据权利要求5所述的像素设计方法，其特征在于，所述获取多个样本像素设计的样本设计参数和样本性能参数标注，具体包括：

获取多个样本像素设计的样本设计参数；

根据所述样本像素设计的所述样本设计参数，利用预设仿真模拟工具对所述样本像素设计进行仿真模拟，以得到所述样本像素设计的样本性能参数。

7.一种像素设计装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取像素设计的设计参数；

确定模块，用于根据所述设计参数和已训练的评估模型，确定所述像素设计的性能参数；

调整模块，用于根据所述性能参数对所述像素设计进行调整。

8.根据权利要求7所述的像素设计装置，其特征在于，所述获取模块具体用于：

响应于用户在图形用户界面上的设计参数输入操作，确定被输入的设计参数；

根据所述设计参数，确定对应的像素设计。

9.根据权利要求7所述的像素设计装置，其特征在于，所述调整模块具体用于：

在所述图形用户界面的第一预设区域中显示所述性能参数；

响应于用户在所述图形用户界面上对所述设计参数的修改操作，确定修改后设计参数，并利用所述修改后设计参数更新所述设计参数和所述像素设计，之后返回执行所述根据所述设计参数和已训练的评估模型，确定所述像素设计的性能参数。

10.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，执行如权利要求1-6任一项所述的像素设计方法中的步骤。