[发明专利]使用光学上可感知的几何元素的可测量参数的比值来校准尺寸量定器在审

专利信息
申请号: 202210437114.7 申请日: 2017-12-11
公开(公告)号: CN114754679A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: H.S.阿克利;F.拉法格 申请(专利权)人: 手持产品公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周学斌
地址: 美国南卡*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 使用 光学 感知 几何 元素 可测量 参数 比值 校准 尺寸 量定器
【权利要求书】:

1.一种系统,包括:

预定义的参考图案,其包括多个光学上可感知的元素,所述光学上可感知的元素至少包括第一光学上可感知的元素和第二光学上可感知的元素,其中所述第一光学上可感知的元素具有第一预定义的尺寸并且所述第二光学上可感知的元素具有第二预定义的尺寸,其中所述第一光学上可感知的元素和所述第二光学上可感知的元素彼此分开第一预定义的距离;以及

尺寸量定器,其被配置成:

确定对象的至少一个尺寸;

根据由所述尺寸量定器捕获的预定义的参考图案的一个或多个图像测量所述第一预定义的尺寸;

测量所述第一和所述第二光学上可感知的元素之间的所述第一预定义的距离,

其中所述尺寸量定器进一步被配置成计算所述第一光学上可感知的元素的所述经测量的第一预定义的尺寸和所述经测量的第一预定义的距离之间的第一比值;

根据由所述尺寸量定器捕获的预定义的参考图案的一个或多个图像测量所述第二预定义的尺寸;

计算所述第二光学上可感知的元素的所述经测量的第二预定义的尺寸和所述经测量的第一预定义的距离的第二比值;以及

其中所述尺寸量定器进一步被配置成基于所计算出的第一比值和所计算出的第二比值而被校准。

2.根据权利要求1所述的系统,其中所述尺寸量定器被配置成分析所述预定义的参考图案的所述一个或多个图像以测量所述第一预定义的尺寸、所述第二预定义的尺寸、和所述第一预定义的距离。

3.根据权利要求1所述的系统,其中所述尺寸量定器被配置成:

将所述第一所计算出的比值与第一预定义的参考比值进行比较;以及

将所述第二所计算出的比值与第二预定义的参考比值进行比较以确定是否需要校准。

4.根据权利要求1所述的系统,其中所述参考图案被应用于刚性参考对象。

5.根据权利要求1所述的系统,其中所述参考图案包括几何形状的对角网格。

6.一种方法,包括以下步骤:

使用尺寸量定器捕获参考图案的一个或多个图像,所述参考图案包括光学上可感知的元素,所述光学上可感知的元素至少包括第一光学上可感知的元素和第二光学上可感知的元素,其中所述第一光学上可感知的元素具有第一预定义的尺寸,其中所述第二光学上可感知的元素具有第二预定义的尺寸,且其中所述第一光学上可感知的元素和所述第二光学上可感知的元素彼此分开第一预定义的距离;

分析所述一个或多个所捕获的图像以计算所述第一光学上可感知的元素的所述第一预定义的尺寸和所述第二光学上可感知的元素的所述第二预定义的尺寸,以及所述第一光学上可感知的元素和所述第二光学上可感知的元素之间的所述第一预定义的距离;

计算所述经测量的第一预定义的尺寸和所述经测量的第一预定义的距离的第一比值;

计算所述经测量的第二预定义的尺寸和所述经测量的第一预定义的距离的第二比值;以及

基于所计算出的第一比值和所计算出的第二比值来确定所述尺寸量定器是否需要校准。

7.根据权利要求6所述的方法,进一步包括:

比较

将所述第一所计算出的比值与第一预先确立的参考比值进行比较;以及

将所述第二所计算出的比值与第二预先确立的参考比值进行比较以确定是否需要校准。

8.根据权利要求6所述的方法,还包括使得所述尺寸量定器能够在需要校准时执行自校准过程的步骤。

9.根据权利要求6所述的方法,还包括当需要校准时指示要将所述尺寸量定器发送到认证机构以进行校准的步骤。

10.根据权利要求6所述的方法,其中所述参考图案包括光学上可感知的几何元素的对角网格。

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