[发明专利]一种温度传感器测试设备及温度传感器补偿方法

说明书

本发明涉及传感器技术领域，提供了一种温度传感器测试设备以及温度传感器补偿方法，温度传感器补偿方法包括如下步骤：S1，提供m个存储有流体介质且分别标定不同预设温度值的恒温槽；S2，将待测温度传感器至少部分浸入恒温槽内的流体介质中，感应流体介质温度并根据流体介质温度生成初始温度信号；S3，接收初始温度信号以生成初始温度值；S4，获取a个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图，并对散点图进行拟合以获取拟合曲线；S5，根据拟合曲线获取温度补偿值并利用温度补偿值对待测温度传感器的实际温度值进行补偿。本发明无需设置温度检测电路以及基准电路，可以降低温度传感器的成本，提高温度传感器的测量精度。

技术领域

本发明涉及传感器技术领域，具体而言，涉及一种温度传感器测试设备及温度传感器补偿方法。

背景技术

温度作为国际单位制的七个基本量之一，测量温度的传感器的各种各样，温度传感器是温度测量仪表的核心部分，十分重要。温度传感器，顾名思义，是指能感受温度并转换成可用输出信号的传感器。温度传感器是温度测量仪表的核心部分，品种繁多，按测量方式可分为接触式和非接触式两大类，按照传感器材料及电子元件特性分为热电阻和热电偶两类。

零点漂移以及温度漂移的存在，会影响温度传感器的测量精度，导致测量结果的不准确。为了消除零点漂移以及温度漂移对温度传感器测量精度的影响，现有的方法一般通过设置温度检测电路和基准电路对温度传感器进行分别校准，将温度检测电路的输出电压和基准电路的输出电压分别校准到要求精度范围内，可以提高温度传感器的测量结果准确度。然而这种需要设置温度检测电路以及基准电路，无疑会增加温度传感器的成本，其成本较高，有待改进。

发明内容

基于此，为了解决现有方法通过设置温度检测电路和基准电路对温度传感器进行分别校准，成本较高的问题，本发明提供了一种温度传感器测试设备及温度传感器补偿方法，其具体技术方案如下：

一种温度传感器测试设备，其包括恒温槽、待测温度传感器、温度值获取模块、拟合曲线获取模块以及补偿模块。

m个恒温槽标定不同预设温度值，恒温槽内存储有流体介质。待测温度传感器至少部分浸入恒温槽内的流体介质中，感应流体介质温度并根据流体介质温度生成初始温度信号。

温度值获取模块与待测温度传感器连接，用于接收初始温度信号以生成初始温度值。

拟合曲线获取模块用于获取a个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图，并对散点图进行拟合以获取拟合曲线。

补偿模块用于根据拟合曲线获取温度补偿值并利用温度补偿值对待测温度传感器的实际温度值进行补偿。其中，a≤m。

所述温度传感器测试设备通过获取a个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图，并对散点图进行拟合以获取拟合曲线，利用拟合曲线获取温度补偿值以对待测温度传感器的实际温度值进行补偿，无需设置温度检测电路以及基准电路，可以降低温度传感器的成本，提高温度传感器的测量精度，解决了现有方法通过设置温度检测电路和基准电路对温度传感器进行分别校准，成本较高的问题。

进一步地，所述拟合曲线获取模块包括：

拟合精度获取单元，用于计算首次获取的拟合曲线的拟合精度δ；

曲线拟合单元，用于判断拟合精度是否小于预设阈值δ_max，若拟合精度大于预设阈值，则重新获取多个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图，并对重新获取得到的散点图进行拟合以获取新的拟合曲线，直至拟合精度小于预设阈值。

进一步地，所述拟合精度获取单元根据公式计算拟合曲线的拟合精度；

其中，T_i表示第i个补偿后的实际温度值，T_i'表示第i个预设温度值，b表示拟合曲线的次数。