[发明专利]检测设备过程检验方法、装置、计算机设备

说明书

本公开涉及自动化控制技术领域，具体公开一种检测设备过程检验方法、装置、计算机设备，所述方法包括：获取检测设备上有效检测工位反馈的电子产品的第一检测数据；按照预设抽检产品数，获取所述有效检测工位若干个已检电子产品的复检数据形成第二检测数据；根据所述第一检测数据和第二检测数据输出的过程检验结果确定对所述有效检测工位状态的调整方式。本公开可以及时调整有效检测工位的状态，保证检测设备的稳定运行，提高了电子产品检测的准确性；确保每个有效检测工位上被抽检的电子产品为预设抽检次数，且便于追踪被抽检电子产品的有效检测工位，可以更快速准确的定位第一检测数据和第二检测数据的对应关系。

技术领域

本公开涉及自动化控制技术领域，特别是涉及一种检测设备过程检验方法、装置、计算机设备。

背景技术

随着自动化控制技术的发展，在电子产品测试领域出现了自动化检测技术，使得电子产品的测试更加便捷和智能高效。尤其针对显示模组等电子产品，显示模组在生活中扮演着越来越重要的角色。而显示模组的生产需要经过多道复杂的工序，在生产加工中可能会产生各种缺陷，因此对其质量的检测也至关重要。显示模组在出厂前需要通过检测设备进行各种检测，比如电检、Mura检、AOI检测、外观检、老化测试等，以达到确定产品为合格品的目的。为了保证自动化检测设备的稳定性，检测设备的过程检验就显得尤为重要。

现有技术中，往往采用人工对每个批次的电子产品进行抽检的过程检验方式，在校验工位时，主要是人工对每个机台检测的产品进行抽样检测。但由于电子产品在自动化检测后都会混在一起，无法区分是哪个工位检测后的产品，因此需要每一个电子产品进行人工扫码判断后抽检，过度依赖于人工对电子产品进行检测，使得检测流程效率低下，检测准确性有待进一步提高。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种检测设备过程检验方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

第一方面，本公开提供了一种检测设备过程检验方法。所述方法包括：

获取检测设备上有效检测工位反馈的电子产品的第一检测数据；

按照预设抽检产品数，获取所述有效检测工位若干个已检电子产品的复检数据形成第二检测数据；

根据所述第一检测数据和第二检测数据输出的过程检验结果确定对所述有效检测工位状态的调整方式。

在其中一个实施例中，所述获取检测设备上有效检测工位反馈的电子产品的第一检测数据包括：

将所述电子产品从检测流程线移入所述有效检测工位；

获取所述电子产品的第一产品信息；

指示所述检测设备对有效检测工位上的电子产品进行检测，获取所述第一检测数据，根据所述第一检测数据和所述有效检测工位信息更新所述第一产品信息，生成第二产品信息；

将所述有效检测工位上完成检测的电子产品移入所述检测流程线。

在其中一个实施例中，所述按照预设抽检产品数，获取所述有效检测工位若干个已检电子产品的复检数据形成第二检测数据包括：

将完成所述有效检测工位检测的所述电子产品从检测流程线移入抽检区域；

获取所述电子产品的所述第二产品信息；所述第二产品信息包括所述电子产品对应的有效检测工位编号，根据所述第二产品信息获取有效检测工位编号对应的有效检测工位上抽检电子产品的累计抽检次数；

指示对所述抽检区域上所述累计抽检次数小于预设抽检次数的电子产品进行复检，以获取所述电子产品的第二检测数据；将所述抽检区域中所述累计抽检次数等于预设抽检次数的电子产品移动至所述检测流程线。

在其中一个实施例中，所述获取检测设备上有效检测工位反馈的电子产品的第一检测数据之前包括：