[发明专利]智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中该方法包括：通过配置模块对智能卡的测试信息进行配置，其中所述配置模块包括不同测试平台的测试配置，所述测试信息包括智能卡类型、所述智能卡测试的应用类型、所述智能卡的读卡器类型；根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据；通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例；根据所述应用类型确定目标测试脚本，基于所述目标测试脚本，通过所述目标测试用例对所述智能卡数据中进行测试。本发明通过提出一种智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质，以兼容不同的智能卡测试平台、提高智能卡的测试效率。

技术领域

本发明涉及智能卡测试领域，尤其是智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前，智能卡在银行、SIM卡、医疗卡、交通卡、门禁卡等上面的需求越来越大，同时对智能卡的功能验证测试也提出更高的要求，在各种不同的智能卡功能测试验证中，需要使用与其相对应的测试平台对其进行功能测试验证，当所有的测试平台都放在同一个测试系统时，如果每一个测试平台都是相互独立不交叉的、不兼容的，那么会造成测试系统非常臃肿，在测试过程中占用操作系统的空间过大造成测试效率低下。

同时，智能卡应用在不断产生，测试人员需要针对每一种智能卡应用开发对应的测试脚本，应用越复杂开发量越大，传统的方法是靠测试人员针对新应用的测试点逐个开发对应的测试用例，这样导致的工作效率非常低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供一种智能卡测试方法、装置、电子设备及存储介质。以兼容各种类型的智能卡测试平台并且提升智能卡的测试效率及开发效率。

本发明的第一方面提供了一种智能卡测试方法，包括：通过配置模块对智能卡的测试信息进行配置，其中所述配置模块包括不同测试平台的测试配置，所述测试信息包括智能卡类型、所述智能卡测试的应用类型、所述智能卡的读卡器类型；根据所述读卡器类型确定目标读卡器，通过所述目标读卡器读取所述智能卡的智能卡数据；通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，其中所述目标测试模块用于提供生成目标测试用例的接口；根据所述应用类型确定目标测试脚本，基于所述目标测试脚本，通过所述目标测试用例对所述智能卡数据中进行测试。

根据本发明实施例的智能卡测试方法，至少具有如下有益效果：通过智能的测试信息进行配置，从而调用目标测试模块生成目标测试用例，并且得到目标读卡器用来对智能卡进行读卡操作，将目标测试用例根据目标测试脚本对智能卡数据进行测试。通过这种方法，使得支持、兼容不同的智能卡测试平台，提升测试效率，对降低测试系统的臃肿，缓解对计算机内存的占用率提升测试速度。

根据本发明的一些实施例，所述通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，包括：确定所述智能卡类型为SIM卡，则调用第一测试模块，其中所述第一测试模块包括第一测试用例、第一指令测试集和第一算法，其中所述第一指令测试集封装了所述第一测试模块中的所有指令，通过所述第一指令测试集生成第一测试接口；通过所述第一算法调用第一测试接口加载应用测试模块，其中所述应用测试模块包括：应用测试用例；获取所述第一测试用例中符合所述应用测试用例的测试数据，生成所述目标测试用例，其中，所述第一测试模块和所述应用测试模块都属于目标测试模块，所述目标测试用例由测试数据组成。

根据本发明的一些实施例，所述通过所述智能卡类型调用目标测试模块，根据所述目标测试模块获取目标测试用例，包括：确定所述智能卡类型为非SIM卡，则调用第二测试模块，其中所述第二测试模块包括第二测试用例、第二指令测试集和第二算法，其中所述第二指令测试集封装了所述第二测试模块中的所有指令，通过所述指令测试集生成第二测试接口；所述第二算法调用第二测试接口加载应用测试模块，其中所述应用测试模块包括：应用测试用例；获取所述第二测试用例中符合所述应用测试用例的测试数据，生成所述目标测试用例，其中，所述第二测试模块和所述应用测试模块都属于目标测试模块，所述目标测试用例由测试数据组成。