[发明专利]电路测试装置

说明书

本发明实施例的电路测试装置，利用导电件的触点端的触点与被测电路的触点相连接，以及在多个导电件之间电连接的短接结构和充电部件，能够实现对被测电路的快速充放电切换。另一方面，在导电件的连接端还设置有连接部，该连接部对多个导电件进行固定，从而使电路测试人员可以单手握持该电路测试装置，极大的降低了操作难度。实现了电路测试装置小型化和集成化。

技术领域

本发明涉及电路测试技术领域，尤其涉及一种电路测试装置。

背景技术

手机或平板电脑等3C电子产品在硬件功能检测时，会对产品主板进行充放电操作，从而测试主板在不同状态下的性能参数。目前，常使用的方法为自然充放电，也即将充电器与主板进行连接。但是此种方式切换充放电操作较为繁琐，极大的影响了电子产品的充放电速度。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种电路测试装置，通过对短接结构和充电部件的切换导通，从而实现对被测电路的充放电操作。

本发明实施例的电路测试装置包括：

连接部；

短接结构；

充电部件，包括开关以及与所述开关电连接的电源；

多个导电件，多个所述导电件间隔设置，多个所述导电件通过所述充电部件电连接，多个所述导电件通过所述短接结构电连接，所述导电件具有相对设置的触点端和连接端，各所述连接端通过所述连接部彼此连接；

所述短接结构与所述导电件的一区域电连接，所述充电部件与所述导电件的另一区域电连接，所述短接结构在放电状态下导通，使得所述多个导电件等电势，所述开关在充电状态下导通，使得所述充电部件在多个所述导电件之间形成电势差。

进一步地，所述充电部件与所述触点端附近区域电连接，所述短接结构所述连接端的附近区域电连接；或

所述短接结构与所述触点端的附近区域电连接，所述充电部件与所述连接端的附近区域电连接。

进一步地，多个所述导电件包括第一导电件和第二导电件；

所述连接部被夹持于所述第一导电件和所述第二导电件之间，以使得所述第一导电件和所述第二导电件上的2个所述触点端具有张开以及收紧量。

进一步地，所述第一导电件和所述第二导电件为片状结构，所述第一导电件和所述第二导电件沿所述片状结构的厚度方向排列。

进一步地，所述连接部包括：

电池槽，所述电池槽开设于所述连接部朝向所述第一导电件和所述第二导电件的相对侧位置。

进一步地，所述开关包括按钮，所述按钮凸设于所述第一导电件背离所述第二导电件的一侧。

进一步地，所述短接结构包括成对设置的第一部分和第二部分，所述第一部分和所述第二部分分别设置于所述第一导电件和所述第二导电件上，且朝向所述第一导电件和所述第二导电件的相对侧，所述第一部分和所述第二部分通过相互搭接和拆分以实现所述第一导电件和所述第二导电件通断。

进一步地，所述第一部分为卡勾，所述第二部分为卡扣。

进一步地，所述片状结构具有带状区域，所述带状区域由所述连接端向所述触点端延伸，所述第一导电件具有螺纹通孔；

所述第一部分包括与所述螺纹通孔对应的调节螺栓 ，所述调节螺栓沿朝向所述第二导电件的方向穿设在所述螺纹通孔内，所述第二部分包括断开套块，所述断开套块套设于所述第二导电件的所述带状区域；

所述断开套块的位置被配置为在所述短接结构处于断开状态时，所述断开套块滑移至与所述调节螺栓对应位置，在所述短接结构处于导通状态时，所述断开套块滑移至与所述调节螺栓相互错开位置。