[发明专利]光电倍增管单光电子响应刻度方法、装置及探测器

权利要求书

1.一种光电倍增管单光电子响应刻度方法，其特征在于，包括：

在m个光强下，分别获取光电倍增管输出信号的电荷谱，得到m个电荷谱；m为大于3的整数；

分别确定m个电荷谱中落于目标电荷区间内的光电子事例数，得到m个第一事例数；所述目标电荷区间具有第一区间宽度；

依据所述m个第一事例数以及光电子事例数概率分布模型，得到单光电子响应函数在所述目标电荷区间内的概率；所述光电子事例数概率分布模型表征了不同电荷谱中落于所述第一区间宽度内的光电子事例数的概率分布情况；

以所述第一区间宽度为步长，更新所述目标电荷区间，重复执行获取单光电子响应函数在所述目标电荷区间内的概率的操作，直至以所述第一区间宽度遍历电荷谱中所有电荷值，得到多个单光电子响应函数在所述目标电荷区间内的概率；

依据所述多个单光电子响应函数在所述目标电荷区间内的概率，得到单光电子的电荷响应分布函数；以及

依据所述单光电子的电荷响应分布函数，确定针对所述光电倍增管的单光电子响应信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述m个电荷谱包括无光测量条件下得到的电荷谱以及(m-1)个不同的有光测量条件下得到的电荷谱；所述方法还包括：

确定第一次有光测量条件下得到的平均光电子数；以及

将所述平均光电子数应用于预先构建的光电子事例数概率分布优化模型，得到所述光电子事例数概率分布模型。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

分别在无光测量条件下与第一次有光测量条件下获取所述光电倍增管输出信号的幅度谱，得到无光测量条件下的幅度谱与第一次有光测量下的幅度谱。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定第一次有光测量条件下得到的平均光电子数包括：

分别确定无光测量条件下的幅度谱中幅度低于幅度阈值的事例数以及第一次有光测量条件下的幅度谱中幅度低于幅度阈值的事例数；以及

依据所述无光测量条件下的幅度谱中幅度低于幅度阈值的事例数与所述第一次有光测量条件下的幅度谱中幅度低于幅度阈值的事例数，确定所述第一次有光测量条件下得到的平均光电子数。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述光电子事例数概率分布模型满足：

其中，f(x)表示光电子事例数概率分布模型，λ₁表示所述第一次有光测量条件下得到的平均光电子数，P₀表示零光电子事例电荷量落于所述第一区间宽度内的光电子事例数的概率，P₁表示单光电子事例电荷量落于所述第一区间宽度内的光电子事例数的概率，P₂表示两个光电子事例电荷量落于所述第一区间宽度内的光电子事例数的概率，x表示其他有光测量条件下得到的平均光电子数相对于所述第一次有光测量条件下得到的平均光电子数的比例系数。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，利用如下公式计算所述平均光电子数：

其中，λ₁表示所述第一次有光测量条件下得到的平均光电子数，N_{1_amp}表示第一次有光测量条件下的幅度谱中幅度低于幅度阈值的事例数，N_{0_amp}表示无光测量条件下的幅度谱中幅度低于幅度阈值的事例数。