[发明专利]一种CL-20/HMX共晶过程中共晶含量表征方法在审
申请号: | 202210392783.7 | 申请日: | 2022-04-15 |
公开(公告)号: | CN114778479A | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 裴宝林;周先民;刘文超;武祎晨;彭松;池旭辉 | 申请(专利权)人: | 湖北航天化学技术研究所 |
主分类号: | G01N21/3563 | 分类号: | G01N21/3563;G01N1/38 |
代理公司: | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人: | 张彩珍 |
地址: | 441003 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 cl 20 hmx 过程 中共 含量 表征 方法 | ||
1.一种CL-20/HMX共晶过程中共晶含量表征方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:
1.样品制备:将ε-CL-20、β-HMX混合均匀制备不同CL-20/HMX共晶含量样品;
2.测试:对不同CL-20/HMX共晶含量样品进行FTIR测试;
3.数据分析:去基线后,绘制峰强比随时间变化曲线,计算CL-20/HMX共晶含量。
2.根据权利要求1所述的CL-20/HMX共晶过程中共晶含量表征方法,其特征在于,内标为-NO2。
3.根据权利要求1所述的CL-20/HMX共晶过程中共晶含量表征方法,其特征在于,通过标准CL-20/HMX共晶和内标自身的FTIR特征峰强度的相对含量和内标的含量计算CL-20/HMX共晶含量。
4.根据权利要求1所述的CL-20/HMX共晶过程中共晶含量表征方法,其特征在于,CL-20/HMX共晶的特征峰在718cm-1处、ε-CL-20的特征峰在723cm-1处、内标的特征峰在1606cm-1处。
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