[发明专利]基于仿真元件的仿真方法、系统、设备和介质

权利要求书

1.一种基于仿真元件的仿真方法，其特征在于，包括：

获取待仿真的目标电路，并根据所述目标电路确定至少一个目标仿真元件；

从仿真元件库中获取每个所述目标仿真元件对应的仿真曲线，每个所述仿真曲线包含其所对应的所述目标仿真元件的电学特性参数，所述电学特性参数包含所述目标仿真元件的寄生参数；

基于所述目标电路记载的至少一个所述目标仿真元件的连接关系以及所述仿真曲线，对所述目标电路进行仿真模拟。

2.根据权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取对每个所述仿真元件进行精确仿真测试得到的双端口S参数；

基于所述双端口S参数进行解析，得到每个所述仿真元件对应的第一特征参数和第二特征参数；

基于每个所述仿真元件元对应的所述第一特征参数和所述第二特征参数，对每个所述仿真元件进行电学特性分析，得到每个所述仿真元件对应的至少一个电学特性参数；

将每个所述仿真元件对应的至少一个所述电学特性参数进行拟合，得到与每个所述仿真元件对应的所述仿真曲线；

将每个所述仿真元件及其对应的所述仿真曲线存储至所述仿真元件库。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一特征参数与所述第二特征参数互为倒数，所述基于所述双端口S参数进行解析，得到所述分离元件对应的所述第一特征参数和所述第二特征参数，包括：

基于所述双端口S参数与所述第一特征参数之间的第一预设规则，确定所述第一特征参数，

根据所述第一特征参数与所述第二特征参数之间的倒数关系，确定所述第二特征参数，或者，

基于所述双端口S参数与所述第二特征参数之间的第二预设规则，确定所述第二特征参数；

根据所述第一特征参数与所述第二特征参数之间的倒数关系，确定所述第一特征参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一特征参数为阻抗信息，所述第二特征参数为导纳信息，每个所述仿真元件对应的所述电学特性参数包括电阻值、电容值和电感值中的至少一个，所述寄生参数包括寄生电阻值、寄生电容值和寄生电感值中的至少一个；

所述基于每个所述仿真元件元对应的所述第一特征参数和所述第二特征参数，对每个所述仿真元件进行电学特性分析，得到每个所述仿真元件对应的至少一个电学特性参数，包括：

当所述电学特性参数包括电阻值时，基于所述第一特征参数和所述第二特征参数，按照第三预设规则确定所述仿真元件对应的电阻值，所述电阻值包括所述寄生电阻值；

当所述电学特性参数包括电容值时，基于所述第二特征参数，按照第四预设规则确定所述仿真元件对应的电容值，所述电容值包括所述寄生电容值；

当所述电学特性参数包括电感值时，基于所述第二特征参数，按照第五预设规则确定所述仿真元件对应的电感值，所述电感值包括所述寄生电感值。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述仿真元件对应的所述电学特性参数对不同频率信号的响应不同，所述将每个所述仿真元件对应的至少一个所述电学特性参数进行拟合，得到与每个所述仿真元件对应的所述仿真曲线，包括：

针对每个所述仿真元件，分别获取所述仿真元件在不同信号频率下响应出的信号幅度；

将每个所述仿真元件在不同信号频率下响应出的多个信号幅度进行拟合，得到每个所述仿真元件对应的仿真曲线。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取对每个所述仿真元件进行精确仿真测试得到的双端口S参数，包括：

通过与每个所述仿真元件相匹配的测试夹具给对应的所述仿真元件进行精确仿真测试，得到每个所述仿真元件对应的双端口S参数。