[发明专利]内环功率控制性能优化方法及装置

权利要求书

1.一种内环功率控制性能优化方法，其特征在于，所述方法包括：

确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；

分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率对应的发射增益；

选择所述第一工作模式和第二工作模式中的一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式；

固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系；

固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系；

根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益包括：

通过预扫描分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系包括：

固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系：

固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下依次扫描多个不同的工作参数，测量每个工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数包括：

根据所述PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系生成一条基准曲线；

根据所述PA在所述待调整模式下功率与温度变化的关系生成多条参考曲线，每条参考曲线对应一个特定的工作参数；

确定所述参考曲线与所述基准曲线最近的点，并将该点所在参考曲线对应的工作参数作为所述待调整模式PA的工作参数。

6.一种内环功率控制性能优化装置，其特征在于，所述装置包括：

切换点确定模块，用于确定PA第一工作模式切换到PA第二工作模式的切换点功率；

发射增益确定模块，用于分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率对应的发射增益；

选择模块，用于选择第一工作模式和第二工作模式中的一种工作模式作为基准模式，另一种工作模式作为待调整模式；

测量模块，用于固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量确定PA在设定工作参数下功率与温度变化的关系；以及固定确定的所述待调整模式下的发射增益，在所述待调整模式下测量确定PA在不同工作参数下功率与温度变化的关系；

优化处理模块，用于根据所述基准模式下测量的功率与温度变化的关系和所述待调整模式下测量的功率与温度变化的关系确定所述待调整模式PA的工作参数。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述发射增益确定模块，具体用于通过预扫描分别确定PA第一工作模下和第二工作模式下所述切换点功率的发射增益。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述测量模块通过固定确定的所述基准模式下的发射增益，在所述基准模式下测量PA在设定工作参数下对应不同温度的功率，并根据测量值确定PA在所述基准模式下功率与温度变化的关系。