[发明专利]用于回归测试的参数调优、文件建立方法及其装置有效
| 申请号: | 202210376773.4 | 申请日: | 2022-04-12 |
| 公开(公告)号: | CN114462339B | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
| 发明(设计)人: | 杨晶晶;王芳;魏炽频 | 申请(专利权)人: | 北京象帝先计算技术有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/331 | 分类号: | G06F30/331;G06F30/333;G06F17/18 |
| 代理公司: | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人: | 王俊博;徐雪峤 |
| 地址: | 100029 北京市朝阳区安定*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 回归 测试 参数 文件 建立 方法 及其 装置 | ||
本公开提供一种用于回归测试的参数调优、文件建立的方法及其装置,通过获取测试计划中的多个测试点、多个测试用例与回归测试的控制参数之间的关联关系,经由该关联关系将测试计划与回归测试的控制参数关联形成整体,避免测试计划与回归测试之间的独立维护和同步,进一步基于该关联关系,对多个测试用例对应的控制参数进行调整,获得调整后的控制参数,实现了芯片测试计划与回归测试之间的关联维护和回归测试的控制参数的整体优化,降低了人工工作量,提高了回归测试效率和准确率。
技术领域
本公开涉及测试领域,尤其涉用于回归测试的参数调优、文件建立方法及其装置。
背景技术
芯片验证是采用相应的验证语言、验证工具、验证方法,在芯片生产之前验证芯片的设计是否符合芯片定义的需求规格,对于芯片设计质量的保证起着至关重要的作用。芯片验证需要验证工程师根据测试计划,运行回归测试,以完成对芯片所有功能点的验证。
在当前的验证流程中,由于测试计划描述的映射关系与回归测试的各项控制条件是独立维护的,这种独立维护的方式,在整个项目周期的验证过程中,需要人为不断地维护测试计划与回归测试控制之间的同步,额外增加了验证工程师的工作量,降低了依据测试计划来运行回归测试的效率。
发明内容
本公开的目的是提供用于回归测试的参数调优、文件建立方法及其装置,实现了芯片测试计划与回归测试之间的关联维护和回归测试控制参数的整体优化,降低了人工工作量,提高了回归测试效率和准确率。
根据本公开的第一方面,提供一种用于回归测试的参数调优方法,包括:
获取测试计划中的多个测试点、多个测试用例与回归测试的控制参数之间的关联关系;
基于所述关联关系,对多个测试用例对应的控制参数进行调整,获得调整后的控制参数。
可选的,所述调整后的控制参数包括:
独立仿真名称,表征相同验证环境中同一测试用例对应的不同仿真用例。
可选的,所述调整后的控制参数包括:
使能控制选项,用于控制测试点对应的测试用例是否需要转换成仿真用例,以滤除重复的回归测试。
可选的,所述回归测试的控制参数包括:回归测试的验证环境、仿真选项以及回归分组。
可选的,基于所述关联关系,对多个测试用例对应的控制参数进行调整,获得调整后的控制参数,包括:
根据所述关联关系,获取验证环境相同且仿真选项不同的同一测试用例作为第一测试用例,为不同测试点对应的所述第一测试用例配置不同的独立仿真名称;
将所述独立仿真名称写入所述控制参数,获得调整后的控制参数。
可选的,基于所述关联关系,对多个测试用例对应的控制参数进行调整,获得调整后的控制参数,包括:
根据所述关联关系,获取验证环境相同、仿真选项相同的同一测试用例作为第二测试用例,所述第二测试用例对应多个测试点,为所有测试点对应的所述第二测试用例配置使能控制选项且只有一个测试点对应的所述第二测试用例的使能控制选项配置为使能;
将所述使能控制选项写入所述控制参数,获得调整后的控制参数。
可选的,获取测试计划中的多个测试点、多个测试用例与回归测试的控制参数之间的关联关系,包括:
建立测试计划中的多个测试点与多个测试用例之间的第一关联关系;
针对每个测试用例,根据测试用例对应的各测试点确定测试用例与所述回归测试的控制参数中的验证环境和仿真选项之间的第二关联关系。
可选的,所述方法还包括:
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