[发明专利]显示面板补偿方法及显示面板

说明书

本发明提供一种显示面板补偿方法及显示面板，包括以下步骤：获取待补偿子像素的电性数据；获取与待补偿子像素相邻且发光颜色相同的多个相邻子像素的电性数据；以及根据多个相邻子像素的电性数据的平均值与待补偿子像素的电性数据的差异，判断对待补偿子像素的电性数据的补偿操作，本申请基于电性数据在局部区域的不可突变性原理，通过获取与待补偿子像素相邻的数个相邻子像素的电性数据的平均值来对待补偿子像素的电性数据进行判断，并根据判断情况对待补偿子像素执行相应的补偿操作，使得补偿操作包含了点、线缺陷等面板本身不良而引起的异常电性数据的修正，因此最终补偿的电性数据不会引起补偿的异常。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板补偿方法及显示面板。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机电激光显示)显示技术相比于LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示)，具有自发光、轻薄、功耗低、响应速度快、适用于透明和柔性显示等特性，正往小、中、大尺寸面板全面渗透，在手环、智能手机、平板、监视器、电视等领域具有广阔的发展前景。

特别地，采用IGZO(indium gallium zinc oxide，铟镓锌氧化物)TFT(Thin FilmTransistor，薄膜晶体管)作为驱动背板的大尺寸蒸镀、打印OLED面板，由于Array制程工艺在大板内部的不均匀性，导致驱动TFT的Vth(Threshold voltage，阈值电压)和Mobility(流动能力)在大板的分布呈现出不均匀的特性。

上述不均匀性指的是驱动管的电性不均匀性，包括TFT的Vth和迁移率K。为了解决这种不均匀性，通常采用源跟随方法，在侦测阶段，通过对像素TFT的电位进行侦测，读取包含了像素TFT电性信息的电压信号至外补的侦测IC(integrated circuit，集成电路)中，再将侦测补偿后的TFT电性信息写入驱动的Vdata信号中，最终实现TFT电性在正面的均匀性(理想情况下)。

要实现上述完美的侦测补偿结果，不允许面板内部存在点缺陷、线缺陷等不良，因为这些不良会干扰外部IC对TFT电性信息的侦测结果。而零容忍的点、线缺陷不良，在工艺上是难以实现的。

由于面板本身不可避免的点、线缺陷，在电性侦测补偿阶段会引起电性侦测异常。当把异常数据写入Vdata信号进行面板的正常驱动时，会引起点亮异常。(如附图15所示，1表示面内缺陷引起侦测异常，补偿后会形成纵向线缺陷，2表示侦测异常引起的横向线缺陷)这种异常会降低生产阶段的侦测补偿生产节拍(Tact Time)，即使在出货前已将所有可能影响侦测结果准确性的线缺陷、点缺陷完全处理，但进行性的缺陷，在出货给客户之后，仍有一定的几率发生，因此很难避免在出货后的侦测补偿异常。

发明内容

本发明提供一种显示面板补偿方法，以解决普通侦测补偿时面板本身所无法避免的点、线缺陷异常而引起的电性侦测异常，提高出货前的侦测补偿良率，降低出货后侦测补偿异常可能引起的客诉风险，基于电性在局部区域的不可突变性原理，本发明提出了一种显示面板补偿方法及显示面板。

为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：

一种显示面板补偿方法，包括以下步骤：

获取待补偿子像素的电性数据；

获取与所述待补偿子像素相邻且发光颜色相同的多个相邻子像素的电性数据；以及

根据多个所述相邻子像素的所述电性数据的平均值与所述待补偿子像素的所述电性数据的差异，判断对所述待补偿子像素的所述电性数据的补偿操作。