[发明专利]硅橡胶老化程度的检测方法及其应用

说明书

本发明提供一种硅橡胶老化程度的检测方法。所述检测方法包括以下步骤：对高温硫化硅橡胶标准样进行加速热老化处理；热加速老化时每间隔一段时间检测标准样中硅‑氧‑硅键的红外光谱及太赫兹时域光谱的吸收系数信息，并绘制标准样的红外光谱吸收峰面积以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线；对待测样本进行红外光谱和太赫兹时域光谱吸收系数检测，获取待测样本中硅‑氧‑硅键的红外光谱吸收峰面积以及太赫兹时域光谱的吸收系数；并与标准样中红外光谱吸收峰面积、太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线进行比较，以获取待测样本的老化程度信息。本检测方法可原位获取待测样本的老化程度且对待测样本无损伤。

技术领域

本发明属于硅橡胶老化检测技术领域，具体涉及一种硅橡胶老化程度的检测方法及其应用。

背景技术

电力设备在使用过程中，会出现材料老化，如复合绝缘子等硅橡胶老化，老化后复合绝缘子的透气透水性增强、水分以及酸等介质容易进入复合绝缘子内部，导致芯棒劣化，严重时会导致复合绝缘子异常断裂，而引发安全事故。因此，有必要对电力设备的复合绝缘子进行老化检测。但是目前的检测方法主要为有损检测，并且需要电力设备停止工作才能检测，不仅会对电力设备造成损伤，而且还影响电力设备的正常运行。

发明内容

针对目前电力设备复合绝缘子老化检测过程中对电力设备造成损伤以及影响电力设备正常等问题，本发明提供一种硅橡胶老化程度的检测方法。

为实现上述发明目的，本发明采用的技术方案如下：

一种硅橡胶老化程度的检测方法，包括以下步骤：

对标准样进行加速热老化处理；所述标准样为高温硫化硅橡胶；

在所述加热老化处理过程中，每间隔一段时间检测所述标准样中硅-氧-硅键的红外光谱信息以及太赫兹时域光谱的吸收系数信息；

根据获得的所述红外光谱信息以及所述太赫兹时域光谱的吸收系数信息，绘制所述标准样的红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线；

对待测样本进行红外光谱和太赫兹时域光谱吸收系数检测，获取所述待测样本中硅-氧-硅键的红外光谱吸收峰面积以及太赫兹时域光谱的吸收系数；

将所述待测样本中获得的信息与所述标准样中红外光谱吸收峰面积随老化时间变化的曲线以及太赫兹1.25THz处的吸收系数随老化时间变化的曲线进行比较，以获取所述待测样本的老化程度信息。

优选地，所述加速老化处理包括以下步骤：

将所述标准样置于200℃～250℃的恒温条件中静置处理。

优选地，所述检测所述标准样中硅-氧-硅键的红外光谱信息以及太赫兹时域光谱的吸收系数信息的时间间隔为0.5天～10天。

优选地，所述标准样为复合缘子用高温硫化硅橡胶。

优选地，对所述标准样进行加速老化处理之前，还包括将所述标准样进行干燥处理的步骤。

优选地，所述干燥处理的温度为50℃～100℃。

优选地，所述干燥处理的时间为10天～20天。

优选地，所述标准样的厚度为0.5mm～2.0mm。

优选地，所述待测样本与所述标准样热加速老化前为相同的材质。

相应地，上述硅橡胶老化程度的检测方法在电力设备复合绝缘子老化程度检测的应用。

本发明的有益效果为：