[发明专利]X射线滤波器、能谱成像系统及特异性组织鉴别方法

权利要求书

1.一种X射线滤波器，其特征在于，包括：

滤波机构(4)，所述滤波机构(4)至少包括：第一滤波单元(1)和第二滤波单元(2)；所述第一滤波单元(1)和所述第二滤波单元(2)用于将同一射线源分离成具有不同能量的射线；所述滤波机构(4)分离的射线通过面阵探测器接收。

2.根据权利要求1所述的X射线滤波器，其特征在于，构成所述滤波机构(4)的滤波单元为条状结构，且条状结构的所述滤波单元垂直于待测组织的重建轴向面。

3.根据权利要求2所述的X射线滤波器，其特征在于，所述滤波机构(4)由所述第一滤波单元(1)和所述第二滤波单元(2)构成，且所述第一滤波单元(1)和所述第二滤波单元(2)在所述滤波机构(4)上交替设置。

4.根据权利要求2或3所述的X射线滤波器，其特征在于，条形结构的所述滤波单元其宽度等于或大于所述面阵探测器的像素尺寸；并且，条形结构的所述滤波单元其长度覆盖所述面阵探测器的像素列。

5.根据权利要求1所述的X射线滤波器，其特征在于，

构成所述滤波机构(4)的至少两种滤波单元的至少一种为空腔结构；和/或，

X射线滤波器还包括：框架结构的基底(3)，所述基底(3)用于固定滤波单元；和/或，

所述滤波机构(4)的滤波单元为铝材质、或者为铜材质、或者为空气；和/或，

所述滤波机构(4)的滤波单元的厚度不同，以改变该滤波单元的透射率。

6.根据权利要求5所述的X射线滤波器，其特征在于，在所述基底(3)上的所述滤波单元为单层结构；和/或，

所述基底(3)为镂空网格状的框架结构，所述镂空网格状的框架结构用于固定所述滤波单元。

7.根据权利要求6所述的X射线滤波器，其特征在于，所述基底(3)上设置有用于形成镂空区域的通孔，所述通孔内为空气，以使所述射线源穿过该滤波单元后，能量不会发生衰减。

8.一种能谱成像系统，其特征在于，包括：

权利要求1至7中任一项所述的X射线滤波器；以及，

面阵探测器，用于接收依次穿过待测物(5)和所述滤波机构(4)，被分离的射线；

计算单元，与所述面阵探测器通讯相连，用于接收所述面阵探测器探测的射线数据，并对该射线数据进行分析处理。

9.一种应用权利要求8所述能谱成像系统的特异性组织鉴别方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1，朝向被扫描体发送高能量X射线；

S2，面阵探测器接收穿过被扫描体的高能量X射线以及通过X射线滤波器进行衰减处理得到低能量X射线；

S3，计算单元接收所述面阵探测器测得的射线数据，对射线数据提取，经过重建分别获得对同一物体的高能数据和低能数据的两组投影图像，以完成双能CT成像的投影采集；

S4，在高能投影数据以及低能投影数据的基础上，根据不同基材料对被检测物体进行基材料分解计算，获取原子序数图像和电子密度图像，实现特异性组织的鉴别。

10.根据权利要求9所述的特异性组织鉴别方法，其特征在于，在步骤S3中，采用插值方法通过所述面阵探测器采集的数据，从而计算已采数值中所述面阵探测器未采集到的数值。

11.根据权利要求10所述的特异性组织鉴别方法，其特征在于，所述插值方法包括：最近邻插值法和/或三次样条插值和/或拉格朗日插值法。