[发明专利]一种对频谱分析仪的频率响应进行校准的方法和系统在审
申请号: | 202210367582.1 | 申请日: | 2022-04-08 |
公开(公告)号: | CN114791580A | 公开(公告)日: | 2022-07-26 |
发明(设计)人: | 舒志明;邹洋;雍鹏飞 | 申请(专利权)人: | 成都玖锦科技有限公司 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;G01R23/16 |
代理公司: | 中国和平利用军工技术协会专利中心 11215 | 代理人: | 刘光德 |
地址: | 610041 四川省成都市高新区和*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 频谱 分析 频率响应 进行 校准 方法 系统 | ||
本发明提出一种对频谱分析仪的频率响应进行校准的方法和系统。其中方法包括:步骤S1、从频谱分析仪输出的射频信号中截取待校准的频率响应数据,并获取频谱分析仪的标准误差阈值,基于标准误差阈值确定校准门限阈值,校准门限阈值小于标准误差阈值;步骤S2、在二维坐标系中标注待校准的频率响应数据中包含的N个数据点,基于校准门限阈值从N个数据点中选取M个表征数据点,M个表征数据点用于表征除M个表征数据点之外的N‑M个数据点的校准量;步骤S3、对M个表征数据点通过幅值补偿的方式进行校准,以及基于M个表征数据点的校准量确定N‑M个数据点的校准量,并以N‑M个数据点的校准量对N‑M个数据点进行校准。
技术领域
本发明属于数字信号处理技术领域,尤其涉及一种对频谱分析仪的频率响应进行校准的方法和系统。
背景技术
在校准频谱分析仪频率响应时,有频率和衰减量两个变量,通常在被测频段内要选择适当的步进频率对每一个衰减量进行逐点测试并校准,这种方式虽然可行,但是由于校准点数量大,举例说明:10M到3800M,10M步进,总共380个点,共25个衰减器,每个点的时间大概,0.2s,需要38025*0.6=1.58小时,如果频率范围到50G,校准时间,大概要花费21小时,校准时会耗费大量的时间,生产效率低下。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提出了一种对频谱分析仪的频率响应进行校准的方案;以有效减少校准点数,节约校准时间,提高生产效率。
具体地,对于每一个衰减量,进行校准是无法避免的,本发明采用的解决方案是减少频率点,即对原始数据进行分析发现有很多点是无效点,可以用相邻的点来代替或者相邻两点的线性差值得到。另外也发现,每一个衰减量的变化趋势是相同的,可以用一个衰减量找到频率点,其他衰减量用相同的频率点;通常下,选择一个通道驻波最差的衰减量,通常默认为0dB时,驻波最差。本发明的目的在于提高生产效率,同时也能兼顾整机的性能指标。
本发明第一方面公开了一种对频谱分析仪的频率响应进行校准的方法。所述方法包括:
步骤S1、从频谱分析仪输出的射频信号中截取待校准的频率响应数据,并获取所述频谱分析仪的标准误差阈值,基于所述标准误差阈值确定校准门限阈值,所述校准门限阈值小于所述标准误差阈值;
步骤S2、在二维坐标系中标注所述待校准的频率响应数据中包含的N个数据点,基于所述校准门限阈值从所述N个数据点中选取M个表征数据点,所述M个表征数据点用于表征除所述M个表征数据点之外的N-M个数据点的校准量;
其中,所述二维坐标系的横轴表示频率,纵轴表示幅度,所述N个数据点中的每个数据点的横坐标为数据点的频率值,纵坐标为数据点的幅度值;
步骤S3、对所述M个表征数据点通过幅值补偿的方式进行校准,以及基于所述M个表征数据点的校准量确定所述N-M个数据点的校准量,并以所述N-M个数据点的校准量对所述N-M个数据点进行校准。
根据本发明第一方面的方法,在所述步骤S1中,从所述频谱分析仪输出的所述射频信号中截取所述待校准的频率响应数据包括:对所述频谱分析仪输出的所述射频信号进行幅值衰减检测,在检测到指定时间段内连续的幅值衰减且衰减幅度超过衰减阈值时,截取所述指定时间段内超过所述衰减阈值的离散信号作为所述待校准的频率响应数据。
根据本发明第一方面的方法,在所述步骤S1中,所述标准误差阈值为所述频谱分析仪的出厂配置数据,所述校准门限阈值为0.3-0.7倍的所述标准误差阈值。
根据本发明第一方面的方法,在所述步骤S2中,基于所述校准门限阈值从所述N个数据点中选取所述M个表征数据点具体包括:
步骤S2-1:
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