[发明专利]一种玻璃样块品质检测装置和方法

说明书

本发明公开了一种玻璃样块品质检测装置和方法，属于玻璃制造检测技术领域，解决现有的玻璃品质检测方法测试步骤不便捷、需要人为搬运待测玻璃样块、玻璃样块品质评估整体效率低，品质状态评估主观因素较大等技术问题。所述玻璃样块品质检测装置采用灯光检测装置对玻璃样块内的缺陷进行检测，采用应力检测装置对玻璃样块内的内应状态进行检测，通过信息采集装置收集上述得到的缺陷状态照片以及应力检测信息，得到玻璃样块中的缺陷及应力情况，该装置检测时，操作简单，能实现方便、准确、快速的评估玻璃样块的品质。

技术领域

本发明属于玻璃制造检测技术领域，具体涉及一种玻璃样块品质检测装置和方法。

背景技术

量产的盖板玻璃产品在研制阶段，必需经过熔样阶段的小样阶段、中样阶段，试生产的小批量阶段、中批量等不同验证阶段。在熔样阶段玻璃样块熔制受加料方式、搅拌、浇铸、退火等因素影响，成品玻璃样块存在交大的内应力导致样块加工破裂，且存在气泡、结石等不良缺陷，对玻璃样块切片、研磨、CG加工、强化等工序影响较大，最终成品样片强化数据以及强度检测数据表现不一致，严重影响对料方产品品质的判断。因此，在玻璃样块加工前应对玻璃样块品质种的内应力以及缺陷进行检测，判定该样块是否符合加工要求，提前规避在加工阶段可能出现的不良影响，并且根据品质状态对熔样工艺提出改进意见，提升产品品质。

传统的品质检测方法，在检测时，因玻璃样块体积及质量较大，来回搬运不便捷且多次搬运存在磕碰损坏等风险因素；其次应力状态的获取需要人为独立拍照，缺陷需要人工计数、分析；玻璃样块品质评估整体效率低，品质状态评估主观因素较大。

发明内容

为了克服上述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种玻璃样块品质检测装置和方法，用于解决现有的玻璃品质检测方法测试步骤不便捷、需要人为搬运待测玻璃样块、玻璃样块品质评估整体效率低，品质状态评估主观因素较大等技术问题。

为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案予以实现：

本发明公开了一种玻璃样块品质检测装置，包括放置架，所述放置架的长边的两端分别贴附有灯光检测装置；所述放置架还连接有应力检测装置；所述放置架的长边的一端还连接有支架的一端，所述支架的另一端连接有信息采集装置。

进一步地，所述应力检测装置包括第一应力检测装置和第二应力检测装置；所述第一应力检测装置放置在放置架下方，所述第二应力检测装置与支架的另一端连接。

进一步地，所述信息采集装置包括应力状态影像采集装置和缺陷状态影像采集装置；所述缺陷状态影像采集装置位于第二应力检测装置的上方，所述应力状态影像采集装置设置在第二应力检测装置的上表面。

进一步地，所述缺陷状态影像采集装置还连接有CCD相机分析装置；所述放置架的长边的一端固定，一端根据玻璃样块尺寸活动。

进一步地，所述CCD相机分析装置为采用编程语言编写的定制软件，所述定制软件的界面包括数据输入区、图形及结果输出区。

进一步地，所述第一应力检测装置为偏光光源；所述第二应力检测装置为应力观察装置；所述第二应力检测装置与放置架相互平行设置。

进一步地，所述放置架的短边的一端安装有激光发射装置。

本发明还公开了上述玻璃样块品质检测装置的使用方法，包括以下步骤：

将玻璃样块放置在放置架上，调整放置架的长边，使得灯光检测装置与玻璃样块的长边贴合；

进行应力检测时，在暗室环境下，灯光检测装置关闭，开启第一应力检测装置，采用进行第二应力检测装置进行应力状态检测，得到的应力检测信息被信息采集装置收集；

进行缺陷检测时，在暗室环境下，灯光检测装置开启，通过信息采集装置采集缺陷状态照片。