[发明专利]一种测试校正装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210361356.2 申请日: 2022-04-07
公开(公告)号: CN114691437A 公开(公告)日: 2022-07-01
发明(设计)人: 朱冰 申请(专利权)人: 珠海市运泰利自动化设备有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;H03M1/12;H03M1/66;H04R29/00
代理公司: 广州市红荔专利代理有限公司 44214 代理人: 王贤义
地址: 519180 广东省珠*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 校正 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种测试校正装置,它包括信号发生模块(1)、信号采集模块(2)以及信号处理模组,所述信号处理模组与输入输出信号相连接,所述信号发生模块(1)和所述信号采集模块(2)均与所述信号处理模组连接,所述信号发生模块(1)的输出端与被测声学对象的输入端连接,所述信号采集模块(2)与被测声学对象的响应端配合,其特征在于:所述信号处理模组包括预校正模块(3)和后校正模块(4),所述预校正模块(3)的输入端与输入信号端口连接,所述预校正模块(3)的输出端与所述信号发生模块(1)的输入端连接,所述后校正模块(4)的输出端与输出信号端口连接,所述后校正模块(4)的输入端与所述信号采集模块(2)的输出端相连接,所述测试校正装置还包括波形发生模块(5)、波形分析模块(6)以及THD分析模块(7),所述THD分析模块(7)的输入端短接在所述信号发生模块(1)的输出端和所述信号采集模块(2)的输入端之间,所述THD分析模块(7)的输出端与所述预校正模块(3)和所述后校正模块(4)相连接,所述波形发生模块(5)与所述波形分析模块(6)以及所述预校正模块(3)连接,所述波形分析模块(6)与所述后校正模块(4)连接。

2.根据权利要求1所述的一种测试校正装置,其特征在于:所述预校正模块(3)和所述后校正模块(4)接收所述THD分析模块(7)输出的校正参数,并分别对输入信号进行预校正和对输出信号进行后校正。

3.根据权利要求2所述的一种测试校正装置,其特征在于:所述信号采集模块(2)包括相连接的数模转换器和模拟后端,所述数模转换器将输入的数字信号转换成模拟信号,所述模拟后端将模拟信号进行调理并输出,所述信号采集模块(2)包括模拟前端和模数转换器,所述模拟前端接收物理信号并转换为模拟信号,所述模数转换器将模拟信号转换为数字信号并输出。

4.一种根据权利要求1所述的一种测试校正装置的测量校正方法,其特征在于,所述测量校正方法包括以下步骤:

步骤S1、首先,对所述预校正模块(3)和所述后校正模块(4)中设置的多项式校正函数进行初始化,设校正函数中的一次项系数为1,其余项系数均设为0,同时将所述信号发生模块(1)的输出端和所述信号采集模块(2)的输入端短接;

步骤S2、确定预校正函数和后校正函数中多项式的阶数M、N,阶数M、N由用户设定或通过自动选择方法确定,其中自动选择方法为所述波形发生模块(5)生成一定频率的正弦波,对所述信号发生模块(1)和所述信号采集模块(2)的输出端进行初步信号分析,分别获得两个节点对应各次谐波的幅值和,获取两个节点幅值中最高次谐波的次数M、N,设定次数M为预校正函数的阶数,设定次数N为后校正函数的阶数;

步骤S3、对预校正函数的各次项系数进行初始化,根据阶数M调整预校正函数的项数,并设定误差的阈值和循环次数,所述波形发生模块(5)生成一定频率的正弦波,对所述信号发生模块(1)的输出端和所述输入信号端口进行信号分析,获得预校正后输出的模拟信号的各次谐波的参考幅值以及所述输入信号端口输出信号的各次谐波的分析幅值,将参考幅值和分析幅值做差获得当前误差的值,根据误差的值计算各次项新系数的值,更新预校正函数的各次项系数为当前计算值,并重复执行分析和更新系数直至误差的值小于设定阈值或超出设定循环次数,此时输出上次循环得出的各次项系数的值,作为预校正函数最终的各次项系数;

步骤S4、对后校正函数的各次项系数进行初始化,根据阶数N调整预校正函数的项数,并设定误差的阈值和循环次数,所述波形发生模块(5)生成一定频率的正弦波,对所述信号发生模块(1)的输出端和所述后校正模块(4)的输出端进行信号分析,获得所述信号发生模块(1)输出模拟信号的各次谐波的参考幅值以及所述后校正模块(4)校正后输出的测量信号的各次谐波的分析幅值,将参考幅值和分析幅值做差获得当前误差的值,根据误差的值计算各次项新系数的值,更新后校正函数的各次项系数为当前计算值,并重复执行分析和更新系数直至误差的值小于设定阈值或超出设定循环次数,此时输出上次循环得出的各次项系数的值,作为后校正函数最终的各次项系数;

步骤S5、完成预校正函数的项数M和各次项系数,和后校正函数的项数N和各次项系数的校正。

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