[发明专利]一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备在审

专利信息
申请号: 202210348239.2 申请日: 2022-04-01
公开(公告)号: CN114609570A 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 汤伟男;田鹏飞 申请(专利权)人: 北京万东医疗科技股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 刘凤
地址: 100016 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁共振 设备 故障 位置 检测 方法 装置 电子设备
【说明书】:

本申请提供了一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备,故障位置检测方法包括:向磁共振设备发送启动信号,以控制磁共振设备启动,磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈;通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间;根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置,确定磁共振设备的故障位置。本申请通过可拆卸检测线圈确定磁共振设备的故障位置,使用户能够针对性的对磁共振设备进行维修处理,减少耗时的同时,保证了故障检出率。

技术领域

本申请涉及磁共振设备技术领域,尤其涉及一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备。

背景技术

磁共振成像设备是基于磁共振成像技术的断层扫描成像的一种,因其图像分辨率高、无电离辐射而得到广泛应用,磁共振成像设备一般被放置在屏蔽间中,在发射射频脉冲时,位于磁共振成像设备的磁体腔内的射频线圈作为发射部件,储存大量能量,同时用来选层和空间编码的梯度线圈也需要产生快速切换变化的梯度场,因此,当磁共振成像设备内部的个别器件出现损坏、接触不良或由于设备长时间使用而导致铁磁性物质(如硬币、铁钉等)被吸入梯度线圈与射频线圈、梯度线圈与磁体腔之间等状况时,由于瞬时放电或电势差会导致扫描过程中出现打火(如伴有电火花)现象,这种情况不仅影响图像质量,若频繁出现而不予处理,还有可能进一步造成设备损坏或人身伤害。但是,由于磁共振设备在安装完毕后形成一个封闭空间,因此导致上述故障通常无法直接观测到。

现有技术中,一般在发现磁共振设备生成的磁共振图像存在异常时,会通过拆除外壳后执行测量驻波比、检查接线、清理磁体腔等操作来处理此类故障,但是现有技术中的方法耗时长且无针对性,无法确保故障检出率。

发明内容

有鉴于此,本申请的目的在于至少提供一种磁共振设备的故障位置检测方法、装置及电子设备,通过可拆卸检测线圈确定磁共振设备的故障位置,使用户能够针对性的对磁共振设备进行维修处理,减少耗时的同时,保证了故障检出率。

本申请主要包括以下几个方面:

第一方面,本申请实施例提供一种磁共振设备的故障位置检测方法,故障位置检测方法包括:向磁共振设备发送启动信号,以控制磁共振设备启动,磁共振设备上布置有多个可拆卸检测线圈;通过数据采集装置确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间;根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置,确定磁共振设备的故障位置。

在一种可能的实施方式中,每个可拆卸检测线圈通过数据线分别连接到数据采集装置的接口,其中,数据采集装置通过以下方式确定每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间:针对每个可拆卸检测线圈,获取该可拆卸检测线圈对故障信号的接收时间;针对每个可拆卸检测线圈,计算该可拆卸检测线圈的接收时间与预设起始时间之间的差值,将差值确定为该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间,其中,各可拆卸检测线圈对应的预设起始时间相同。

在一种可能的实施方式中,多个可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置包括以下项中的至少一项:位于磁共振设备的容纳腔的覆盖外壳上,位于磁共振设备的主磁体外壳上,和/或,每个可拆卸检测线圈由无磁性金属材料制成。

在一种可能的实施方式中,根据每个可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间以及各可拆卸检测线圈在磁共振设备上的布置位置,确定磁共振设备的故障位置的步骤包括:针对每个可拆卸检测线圈,根据该可拆卸检测线圈接收到故障信号的响应时间,确定该可拆卸检测线圈在所述磁共振设备上的布置位置与故障信号的产生位置之间的计算距离;在所述磁共振设备上的布置位置,根据该可拆卸检测线圈对应的计算距离以及布置位置,确定磁共振设备的故障位置。

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