[发明专利]天线装置及测量方法

说明书

本发明提供一种避免电波暗箱的大型化及接收天线的更换作业的繁杂化，并且对收发毫米波的无线信号的DUT能够实现宽频带的有效的杂散测量的天线装置及测量方法。天线装置具有电波暗箱(50)，所述电波暗箱(50)具有不受周围电波环境影响的内部空间(51)，所述天线装置还具有：多个天线(6)，分别使用预先设定的多个划分频带的无线信号；反射器(7)，容纳于内部空间，且具有规定的旋转抛物面，通过DUT(100)的天线(110)发送或接收的无线信号经由该旋转抛物面反射；及天线配置构件(60)，根据划分频带，将多个天线(6)依次配置于离旋转抛物面规定的焦点位置(F)。

本申请是申请日为2019年10月10日、申请号为201910957147.2、发明名称为“天线装置及测量方法”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种使用OTA(Over The Air：空中下载)环境的电波暗箱而进行被试验对象的天线所使用的无线信号附近的杂散测量的天线装置及测量方法。

背景技术

近年，伴随多媒体的发展，大量生产安装有蜂窝、无线LAN等无线通信用天线的无线终端(智能手机等)。今后，尤其要求收发与使用毫米波的宽频带信号的IEEE802.11ad或5G蜂窝等对应的无线信号的无线终端。

在无线终端的制造工厂中，对无线终端所具备的无线通信天线测量按每个通信标准规定的发送电波的输出电平或接收灵敏度，并进行判定是否满足规定基准的性能试验。

伴随4G或从4G演进向5G的换代而上述的性能试验的试验方法也正在发生变化。例如，在将5G NR系统(New Radio System：新无线电系统)用无线终端(以下，5G无线终端)视为被试验对象(Device Under Test：DUT(被测器件))的性能试验中，无法使用4G或4G演进等的试验中曾为主流的DUT天线端子与试验装置的有线连接，因此进行将DUT与试验用天线一同容纳于不受周围电波环境影响的箱内并通过无线通信进行从试验用天线向DUT发送试验信号及用试验用天线接收来自接收了试验信号的DUT的被测量信号的所谓的OTA试验。

而且，关于5G无线终端，成为根据5G NR标准的修订，除了上述性能试验以外还规定必须进行杂散测量。杂散测量是指测量5G无线终端的目标振荡频率时的通信中在其以外的频带时发射哪种程度的无用的电波即杂散(spurious)波的技术。

在5G无线终端的性能试验中，作为实现上述的OTA试验环境及杂散测量环境的试验用器材，已知有紧缩场(Compact Antenna test Range：以下，CATR)。CATR由被称为OTA暗室的电波暗箱构成，且以防止来自外部的电波的侵入及电波向外部的发射的方式容纳有DUT、试验用天线及杂散测量用的多个接收天线。而且，CATR的特征在于，在DUT天线与试验用天线之间的信号传播路径中配置有具有旋转抛物面的反射器(reflector)，与不使用反射器的情况相比，能够缩短信号传播路径，与常规远场环境下的OTA试验相比，如字面那样能够实现紧凑化。

在使用CATR的测量装置中，在OTA暗室内，从试验用天线发送试验信号并使DUT接收，并由试验用天线来接收已接收该试验信号的DUT发送的被测量信号而实施上述性能试验。并且，在该测量装置中，由多个接收天线接收上述被测量信号的同时接收DUT发射的杂散频带的无线信号，并按与各接收天线对应的每个频带进行分析。

关于使用多个试验用天线的以往的天线测量装置，已知有如下技术，即，经由多波束天线同时发送叠加了不同符号的相同频率的多个波束，抑制由对相同频率的多波束的编码引起的无用波的影响，而同时测量从多波束天线发射的所有波束(例如，参考专利文献1)。

专利文献1：日本特开2009-147687号