[发明专利]一种ICT自检系统

说明书

本发明公开了一种ICT自检系统，包括：电源模块、数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块、复位模块，电源模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块和复位模块，复位模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块和显示屏检测模块，本发明可以优化ICT测试板内部的自检电路，去掉了不用的功能，优化了硬件成本，同时可以降低维修难度，方便快速定位问题点，节约人工成本；降低了出货或者维修人员的能力要求，可以快速高效的实现量产。

技术领域

本发明涉及通信技术领域，具体是一种ICT自检系统。

背景技术

信息与通信技术(ICT，information and communications technology)是一个涵盖性术语，覆盖了所有通信设备或应用软件以及与之相关的各种服务和应用软件，例如视频会议和远程教学。

ICT系统的自检一般是设计在ICT系统里面，而且现有的自检也是半闭环方式，不能实现ICT系统的100％自检。

发明内容

本发明的目的在于提供一种ICT自检系统，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种ICT自检系统，包括：

电源模块，用于给待测ICT板供电以及自身的供电；

数字IO电路检测模块，用于利用待测ICT模块的输入和输出作为一个环路，检测输入输出的功能，判断通路导通情况；

电容检测模块，用于检测待测ICT电容测试值是否符合精度要求；

电阻检测模块，用于检测待测ICT板的矩阵切换已经电阻测试功能；

显示屏检测模块，用于检测待测ICT板的显示接口功能；

复位模块，用于复位ICT检测板的功能模块；

电源模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块、显示屏检测模块和复位模块，复位模块分别连接数字IO电路检测模块、电容检测模块、电阻检测模块和显示屏检测模块。

作为本发明的进一步技术方案：所述电源模块包括芯片U1、二极管D1、而IGD2、二极管D3、电容C1和电感L1，芯片U1的脚1连接电容C1、二极管D2的阴极和保险丝F1，保险丝F1的另一端连接24V电压，芯片U1的脚2连接电感L1和二极管D3的阴极，电感L1的另一端连接二极管D1的阳极和芯片U1的脚4，二极管D1的阴极连接电容C2，电容C1的另一端接地，电容C2的另一端接地，二极管D2的阳极接地，二极管D3的阳极接地。

作为本发明的进一步技术方案：所述数字IO电路检测模块由多组结构相同的检测电路组成，每个检测电路均包括串联而成的继电器、电阻和发光二极管。

作为本发明的进一步技术方案：所述电容检测模块包含三路检测电路，每个检测电路均包括串联而成的继电器、电阻和发光二极管，每个继电器的触点上连接有待检测电容，检测电容分别为0.1uF/1.0uF/10.0uF电容。

作为本发明的进一步技术方案：所述电阻检测模块包括串联组成的待检测电阻，待检测电阻包括0/10/22/50/100/220/510/1K/2.2K/3.3K/4.7K/5.1K/9.1K/10K/20K/33K/47K/91K/100K/120K/200K/510K/1M电阻。

作为本发明的进一步技术方案：所述电源模块是由24V转换为24V/5V的双电源。

作为本发明的进一步技术方案：所述芯片U1的型号为LM2576。