[发明专利]一种硬盘性能损失预测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请公开了一种硬盘性能损失预测方法、装置、设备及存储介质。涉及硬盘测试技术领域，该方法包括：对待预测硬盘进行噪声敏感度测试，以得到所述待预测硬盘在不同频率段的损失临界下对应的目标功率谱密度以及不同频率段下的敏感度；获取机箱内实测噪声对应的功率谱密度曲线，以得到实测噪声下不同所述频率段对应的功率谱密度曲线段；根据每个频率段对应的所述敏感度、所述目标功率谱密度以及所述功率谱密度曲线段，预测所述待预测硬盘在不同频率段下的局部性能损失，并根据每个频率段下的局部性能损失得到所述待预测硬盘的整体性能损失。可以实现对硬盘在机箱内复杂情况下的性能损失预测，代替机箱内的实物测试。

技术领域

本发明涉及硬盘测试技术领域，特别涉及一种硬盘性能损失预测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

目前，由于系统散热需求使用的高转速风扇会辐射出很强的噪声，常常会引起机械硬盘的性能损失。研发人员通常需要分析噪音致硬盘性能下降的原理和频率(Hz)，但是，目前只有硬盘厂家的PES（Position Error Signal）分析工具可以显示机箱内硬盘的性能下降都由哪些频率的噪声引起的以及各个频率的影响程度，但是PES分析工具是硬盘厂家专属工具，其它公司没有应用权限，使得这些研发人员的分析工作没有方便可用的工具。因此，如何预测硬盘的性能损失是目前亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种硬盘性能损失预测方法、装置、设备及介质，能够预测硬盘在机箱内复杂情况下的性能损失。其具体方案如下：

第一方面，本申请公开了一种硬盘性能损失预测方法，包括：

对待预测硬盘进行噪声敏感度测试，以得到所述待预测硬盘在不同频率段的损失临界下对应的目标功率谱密度以及不同频率段下的敏感度；所述损失临界为硬盘性能损失从不存在损失到存在损失的边缘状态；

获取机箱内实测噪声对应的功率谱密度曲线，以得到实测噪声下不同所述频率段对应的功率谱密度曲线段；

根据每个频率段对应的所述敏感度、所述目标功率谱密度以及所述功率谱密度曲线段，预测所述待预测硬盘在不同频率段下的局部性能损失，并根据每个频率段下的局部性能损失得到所述待预测硬盘的整体性能损失。

可选的，所述对待预测硬盘进行噪声敏感度测试，以得到所述待预测硬盘在不同频率段的损失临界下对应的目标功率谱密度以及不同频率段下的敏感度，包括：

对所述待预测硬盘进行不同频率段的噪声敏感度测试，得到每个频率段在不同预设声压级下的功率谱密度、每个频率段的损失临界对应的目标功率谱密度以及每个频率段在不同预设声压级下的硬盘性能损失；

基于相同频率段对应的所述功率谱密度、目标功率谱密度和所述硬盘性能损失，得到对应的所述频率段的敏感度。

可选的，所述对所述待预测硬盘进行不同频率段的噪声敏感度测试，得到每个频率段在不同预设声压级下的功率谱密度、每个频率段的损失临界对应的目标功率谱密度以及每个频率段在不同预设声压级下的硬盘性能损失，包括：

按照预设带宽对目标频率范围进行划分，得到多个频率段的频率上下限和中心频率；

计算所述频率段在不同预设声压级下的功率谱密度，并确定所述待预测硬盘在所述频率段对应的不同预设声压级下的硬盘性能损失；

根据不同预设声压级对应的硬盘性能损失，确定出所述待预测硬盘在所述频率段的损失临界以及所述损失临界对应的目标功率谱密度。

可选的，所述基于相同频率段对应的所述功率谱密度、目标功率谱密度和所述硬盘性能损失，得到对应的所述频率段的敏感度，包括：

分别计算所述频率段在不同预设声压级下的功率谱密度与所述频率段的损失临界对应的目标功率谱密度的平方差，得到所述频率段在不同预设声压级对应的超限噪声强度；