[发明专利]一种光学薄膜卷料裁切系统及方法

说明书

本发明公开一种光学薄膜卷料裁切系统及方法。所述光学薄膜卷料裁切系统包括卷送装置、AOI装置及裁切装置。所述卷送装置具有卷送机及编码器。所述卷送机用于将光学薄膜卷料依序卷送至所述AOI装置及所述裁切装置。所述编码器用于检测光学薄膜卷料的卷送码数。所述AOI装置具有线扫相机。所述线扫相机在光学薄膜卷料上形成有扫描线且所述扫描线从光学薄膜卷料其中一侧边延伸至相对另一侧边。所述裁切装置具有裁切刀具。所述裁切刀具用于将光学薄膜卷料裁切为裁切后片料。本发明的有益效果在于：利用AOI装置、裁切装置及分拣装置，完成对光学薄膜卷料的自动裁切及裁切后片料的自动分类，并且无需人工干预。

技术领域

本发明涉及光学薄膜卷料的裁切工序，特别地是，一种光学薄膜卷料裁切系统及方法。

背景技术

目前现有光学薄膜（诸如，偏光膜）卷料裁切系统的裁切方式为标准裁切，即光学薄膜卷料在裁切过程中始终按照标准裁切长度进行裁切，得到统一规格的裁切后片料。裁切后片料送入质检由人工方式进行核查分类。若裁切后片料被人工核查到存在缺陷标记，则判断为不合格产品，将其置于不合格料区。若裁切后片料被人工核查到不存在缺陷标记，则判断为合格产品，将其置于合格料区。上述流程的缺点在于：采用人工核查缺陷标记，工作效率较低，可能出现错查漏查；采用人工分类，操作者的拿起放下等动作易对裁切后片料造成损伤。此外，不合格产品的处理方式多为直接丢弃，造成物料浪费。

发明内容

本发明要解决现有技术中光学薄膜卷料裁切采用人工核查分类的问题，提供一种新型的光学薄膜卷料裁切系统及方法。

为了实现这一目的，本发明的技术方案如下：一种光学薄膜卷料裁切系统，包括卷送装置、AOI装置及裁切装置，所述卷送装置具有卷送机及编码器，所述卷送机用于将光学薄膜卷料依序卷送至所述AOI装置及所述裁切装置，所述编码器用于检测光学薄膜卷料的卷送码数，所述AOI装置具有线扫相机，所述线扫相机在光学薄膜卷料上形成有扫描线且所述扫描线从光学薄膜卷料其中一侧边延伸至相对另一侧边，所述线扫相机用于光学检测光学薄膜卷料的缺陷标记，所述裁切装置具有裁切刀具，所述裁切刀具用于将光学薄膜卷料裁切为裁切后片料。

作为一种光学薄膜卷料裁切系统的优选方案，进一步地包括分拣装置，所述分拣装置具有分拣器，所述分拣器用于分拣裁切后片料。

作为一种光学薄膜卷料裁切系统的优选方案，更进一步地包括整料装置，所述整料装置用于整齐裁切后片料。

本发明还公开一种光学薄膜卷料裁切方法，包括：

提供所述光学薄膜卷料裁切系统；以及，

所述裁切刀具根据所述线扫相机的关于所述缺陷标记的扫描结果及所述编码器的关于光学薄膜卷料的卷送码数对光学薄膜卷料进行裁切，以得到裁切后片料；

其中，所述裁切刀具的裁切策略配置为：定义所述裁切刀具的标准裁切长度及小于标准裁切长度的最小裁切长度；判断光学薄膜卷料在前次的裁切线位置始的最小裁切长度的范围内是否存在所述缺陷标记：若是，则根据前次的裁切线位置始距离最小裁切长度的位置设置本次的裁切线位置且将本次的裁切后片料归类为待报废产品；若不是，则进一步判断光学薄膜卷料在前次的裁切线位置始的标准裁切长度的范围内是否存在所述缺陷标记：若是，则根据距离前次的裁切线位置最远的缺陷标记的位置设置本次的裁切线位置且将本次的裁切后片料归类为待回收产品；若不是，则根据前次的裁切线位置始距离标准裁切长度的位置设置本次的裁切线位置且将本次的裁切后片料归类为合格产品。

作为一种光学薄膜卷料裁切方法的优选方案，所述分拣器的分拣策略配置为：所述分拣器根据裁切后片料的类别进行分拣；若裁切后片料归类为待报废产品，则将其分拣至不合格产品料区的废料仓，进入所述废料仓的裁切后片料直接作报废处理；若裁切后片料归类为待报回收品，则将其分拣至不合格产品料区的回收仓，进入所述回收仓的裁切后片料待后续人工剪裁成较小尺寸的可用片料；若裁切后片料归类为合格产品，则将其分拣至合格产品料区。