[发明专利]一种多工位高速测试装置及方法

权利要求书

1.一种多工位高速测试装置，其包括：工控机、自动测试平台、矢量网络分析仪、薄膜探针卡；

所述工控机通信连接所述自动测试平台、所述矢量网络分析仪；

所述自动测试平台包括图像采集处理模块、机械手、产品托盘；

待测试产品放置于所述产品托盘上；所述机械手上安装测试夹具，所述薄膜探针卡安装于所述测试夹具上，每个薄膜探针卡上设置薄膜探针；所述图像采集处理模块基于图像采集设备和图像分析模块获取每次测试中的所述产品托盘上的物品的坐标和每个所述薄膜探针的坐标传输给所述工控机，同时所述测试夹具将所述薄膜探针抓取的测试数据传输给所述矢量网络分析仪；所述矢量网络分析仪对接收到的数据进行处理后传递给所述工控机，在所述工控机中实现对信号数据的判断；

其特征在于：

所述测试夹具上设置的所述薄膜探针卡个数大于等于1；

所有的所述薄膜探针卡在所述测试夹具上按照行或列设置；当所述薄膜探针卡的行数或者列数大于1时，相邻的两行或者两列之间空余一行或者空余一列；

所述产品托盘上设置坐标原点，每个所述产品托盘上设置的所述待测试产品个数大于等于1，所有所述测试产品以所述测试原点为起点，分别沿着横坐标和纵坐标方向成直线排列；

每个待测试产品上的测试点在每个所述薄膜探针卡上相适应的位置都设置有薄膜探针。

2.根据权利要求1所述一种多工位高速测试装置，其特征在于：所述PCB板上的信号通路个数N-Data的计算方法为：

N-data =N-PC*N-S

其中，N-PC为每个所述薄膜探针卡上薄膜探针的个数，N-S为薄膜探针卡的个数。

3.根据权利要求1所述一种多工位高速测试装置，其特征在于：所述测试夹具中对多工位的薄膜探针卡采集的信号数据回传，采用并行线路回传。

4.根据权利要求1所述一种多工位高速测试装置，其特征在于：所述测试夹具包括信号数据回传用PCB板，所述PCB板的线路连通所述薄膜探针卡，所述PCB板为多层PCB板，基于分层对回传信号隔离。

5.一种多工位高速测试方法，其特征在于其包括以下步骤：

S1：将所述待测试产品设置在产品托盘上；

S2：在所述产品托盘上设置托盘原点，以所述托盘原点为原点建立托盘坐标系；

每个所述待测试产品以所述托盘原点为起点，沿着托盘坐标系上的X轴和Y轴方向依次成直线排列；

S3：通过图像采集处理模块获取产品托盘上每个所述待测试产品的坐标位置；

S4：对于每个所述待测试产品设置标志位：测试次数；

所述测试次数初始化为0，待测试产品每测试一次，则所述测试次数的值加一；

S5：确认所述待测试产品最大的可以接受的与薄膜探针的接触的测试次数，设为：探针上限次数；

S6：找到产品托盘上完全无需测试的产品点位，设置为规避点；

S7：选择本次测试的薄膜探针卡在测试夹具上的布局；

在所述测试夹具上设置夹具原点；

所有的所述薄膜探针卡在所述测试夹具上以所述夹具原点为起点，按照行或列设置；当所述薄膜探针卡的行数或者列数大于1时，相邻的两行或者两列之间空余一行或者空余一列；

当所述夹具原点与所述托盘原点对准时，每个所述薄膜探针卡对准一个待测试产品；

S8：以所述坐标原点为起点，按照预设的测试规则，完成对待测试产品进行测试；

测试时基于所述图像采集处理模块获取所有的薄膜探针卡的坐标和所述待测试产品的坐标，根据所述规避点的坐标回避所有的所述规避点；同时确保每个所述待测试产品的测试次数小于等于所述探针上限次数。