[发明专利]一种CPU测试系统及服务器

说明书

本发明提出一种CPU测试系统，包括第一测试板，第二测试板，控制器，其中：第一测试板配置用于为第一CPU提供运行环境并收集第一CPU运行时各个模块的状态数据及运行数据；第二测试板配置用于为第二CPU提供运行环境并收集第二CPU运行时各个模块的状态数据及运行数据；控制器配置用于收集第一测试板和第二测试板上的各个模块的状态数据和运行数据并生成测试结果。通过本发明提出的一种CPU测试系统，当板载连接器传输MISC等信号出现PIN数不够时，可采用并行信号转串行信号和串行信号转并行信号来进行解决。有效解决测试成本高昂，测试效率低，测试灵活性低下，并同时解决高功耗CPU出厂测试的散热问题以及产生的环境噪声问题。

技术领域

本发明属于计算机领域，具体涉及一种CPU测试系统。

背景技术

为了适应更强的数据传输与处理，CPU厂商在工艺未达到更进一步之前，都在采用堆core的方式来提升CPU的性能，其他芯片厂商也会为了适配高性能CPU进行芯片的革新，给社会进步带来了极大的生产能力。与此同时，CPU的功耗以及服务器整机的功耗也在不断上升，给CPU的出厂验证带来了极大的挑战，不仅基本功能测试困难而且成本高昂。

CPU功耗从180W提升到240W，再进一步提升到280W和350W，根据Intel和AMD等最新平台的CPU功耗将达到400W以上。以Intel公司M7和M8两代的CPU进行对比，M7基于eaglestream平台的CPU4000+pin脚，开机上电需要南桥芯片进行配套使用；而M8基于birchstream平台的CPU将PCH芯片集成到CPU内部，导致M8的CPU的pin脚数7000+。这无疑大幅度的提升了CPU的功耗。

如图3所示传统的测试验证都是采用服务器主板的双路设计采用风冷方式进行散热，板卡尺寸比较大，且产生较高的环境噪声，成本高昂，在CPU功耗大幅提高后，达到这种设计的难度太大。而且随着CPU功耗的增加更加容易因高功耗导致主板损坏，并且一旦发生不可逆的损坏，则整个主板都将报废。使得测试成本急剧增加。

为此，本文提出一种便捷的CPU出厂测试板卡设计方案。

发明内容

为解决以上问题，本发明提出一种CPU测试系统，包括第一测试板，第二测试板，控制器，其中：

所述第一测试板配置用于为第一CPU提供运行环境并收集所述第一CPU运行时各个模块的状态数据及运行数据；

所述第二测试板配置用于为第二CPU提供运行环境并收集所述第二CPU运行时各个模块的状态数据及运行数据；

所述控制器配置用于收集所述第一测试板和所述第二测试板上的各个模块的状态数据和运行数据并生成测试结果。

在本发明的一些实施方式中，系统还包括：

第一连接器，所述第一连接器配置用于实现所述控制器和所述第一测试板/所述第二测试板的通信；

第二连接器，所述第二连接器配置用于实现所述第一CPU和所述第二CPU的通信。

在本发明的一些实施方式中，系统还包括：

传感器模块，所述传感器模块分布在所述第一测试板和第二测试板上配置用于监测所述第一测试板和所述第二测试板的状态数据。

在本发明的一些实施方式中，还包括：

第一转换模块，所述第一转换模块配置用将所述第一测试板/所述第二测试板的运行数据转换成串行数据发送到所述控制器。

在本发明的一些实施方式中，还包括：

第二转换模块，所述第二转换模块配置用将所述控制器发送的串行数据转换成并行数据发送到所述第一测试板/所述第二测试板。

在本发明的一些实施方式中，控制器进一步配置用于：