[发明专利]一种光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法在审
| 申请号: | 202210300712.X | 申请日: | 2022-03-25 |
| 公开(公告)号: | CN114858784A | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
| 发明(设计)人: | 常德峰;韩汝钊;许学深 | 申请(专利权)人: | 山东水利职业学院 |
| 主分类号: | G01N21/71 | 分类号: | G01N21/71;B08B1/04;B08B1/00 |
| 代理公司: | 北京中仟知识产权代理事务所(普通合伙) 11825 | 代理人: | 李祥旗 |
| 地址: | 276827 *** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光谱 归一化 结合 多元 统计 模型 玉石 原产地 鉴定 方法 | ||
本发明提供一种光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法。所述光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法,包括以下步骤:S1多产地玉石原料的采样;S2将采样数据进行归一化结合多远统计,生成鉴定模型;S3对鉴定模型进行成分分析;S4选取试样玉石进行鉴定实验,使用激光诱导机床光谱实验对试样玉石进行检测,获得试样光谱。本发明提供的光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法,通过构建多产地玉石不同成分的标准比对光谱,在对未知玉石进行取样检测后,将检测数据直接与标准比对光谱进行对照,对照后的各成分比对数据集中指向最接近的玉石产地,可直接判断未知玉石的产地。
技术领域
本发明涉及玉石鉴定技术领域,尤其涉及一种光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法。
背景技术
玉石是一类珍贵的矿物,通常会被打造为各类首饰、装饰品和艺术品。高品质的玉石具有很高的经济和工艺价值。在中国,玉石文化已有上千年的历史,蕴含了丰富的内涵。而玉石的品质和价格,主要由玉石原料的产地决定。与鉴别玉石真假相比,玉石原产地的鉴定难度更大。
在对玉石进行鉴定时,通过传统的色泽、经验判断和常规光学检测的原产地鉴别方法正确率只有60%左右,且需要相关专家才能进行,主要由相关专家进行识别,受人为因素影响很大,目前虽然也有采用拉曼光谱技术、电感耦合等离子体光谱技术对不同产地的玉石样品进行比较,却没有形成较为系统的鉴定方法。
在现有技术中,现有的玉石原产地鉴定方法中,采用激光诱导击穿光谱技术对玉石的成分进行检测,能够减少对玉石的损伤,方便对玉石各成分的光谱数据进行采集,光谱数据采集后不方便为未知的玉石提供对照,玉石原产地的鉴定方法有待优化。
因此,有必要提供一种光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法解决上述技术问题。
发明内容
本发明提供一种光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法,解决了未知玉石不方便鉴定的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供的光谱归一化结合多元统计模型的玉石原产地鉴定方法,包括以下步骤:S1多产地玉石原料的采样;
S2将采样数据进行归一化结合多远统计,生成鉴定模型;
S3对鉴定模型进行成分分析;
S4选取试样玉石进行鉴定实验,使用激光诱导机床光谱实验对试样玉石进行检测,获得试样光谱;
S5将试样光谱进行归一化处理,提进行成分分析,再将该成分与鉴定模型中的成分进行比对,鉴定试样玉石的产地归类。
优选的,所述步骤S1的玉石原料采用不同省份、国家的玉石,至少选用七组,玉石清洗至表面无污渍,每组玉石进行采样前提前贴敷标签,防止玉石混乱而不方便辨别原产地。
优选的,同一组所述玉石使用激光诱导击穿光谱实验系统进行检测,获得同一组检测光谱数据,对同一组检测光谱数据进行初次归一化处理,获得同一组玉石检测光谱数据标准值,缩小不同地域玉石的误差范围。
优选的,所述步骤S2中的采样数据为七组玉石的检测光谱数据标准值,进行再次归一化处理,选择相对强度较高的特征谱线作为标准特征谱线,对每组玉石的检测光谱数据标准值与标准特征谱线进行比对,比对后归一化形成鉴定模型。
优选的,所述步骤S3中鉴定模型由七组玉石产地组成,鉴定模型中存有n个成分组成的特征谱线相对标准谱线的比对数据。
优选的,所述步骤S4获得试样玉石的试样特征谱线,在步骤S5对试样特征谱线进行归一化处理,提取对应的n个成分的试样特征谱线,将试样特征谱线与鉴定模型中的标准谱线进行比对。
优选的,n个成分所述比对数据与所述鉴定模型中的数据进行对照,根据各成分的对比数据选择对应的模型区间,选择重合率最高的产地即为原产地。
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