[发明专利]HIL测试的覆盖度检测方法、设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种HIL测试的覆盖度检测方法、设备及存储介质，属于测试技术领域，方法为：获取HIL测试用例，并使用HIL测试用例对控制器进行HIL测试；在HIL测试过程中，检测并统计控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记；基于预设标记的统计数据，确定HIL测试用例对功能函数的覆盖度。一方面利用HiL测试用例确定软件代码中功能函数的执行情况、判断功能函数的执行功能。另一方面通过软件代码中功能函数的执行情况判断HiL测试用例的覆盖度。相较于传统方案不仅可以提高HiL测试用例的功能函数覆盖度，同时可以优化控制器软件代码，减少“死函数”在软件代码中的占有率，降低软件代码的冗余率。

技术领域

本发明涉及测试领域，尤其涉及一种HIL测试的覆盖度检测方法、设备及计算机可读存储介质。

背景技术

在现有对控制器进行HiL(Hardware in Loop，硬件在环)测试的过程中，通常是编写一定数量的HiL测试用例对控制器展开测试，通过测试用例的结果判断控制器的功能是否符合设计要求，同时对测试用例失败项进行分析，针对性的修改软件并进行回归测试，直至所有的HiL测试用例全部通过为止。

但是在上述操作的过程中，会存在以下问题，即由于HiL测试受限于黑盒测试的客观性，导致测试人员在编写HiL测试用例时，难以保证控制器软件的测试覆盖度，即无法保证控制器软件的每一个功能或者每一个函数均被成功测试和验证。例如某项目控制器需要进行HiL测试验证其功能策略和故障处理机制，此时测试人员编写1000条测试用例对控制器进行HiL测试，但是所编写的HiL测试用例可能只覆盖测试90％的控制器软件代码,剩余的10％控制器软件代码并未进行测试验证，导致对后期交付至客户的控制器产品功能造成隐患。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种HIL测试的覆盖度检测方法，旨在解决现有技术中HIL测试无法全面覆盖控制器软件代码的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种HIL测试的覆盖度检测方法，所述HIL测试的覆盖度检测方法包括：

获取HIL测试用例，并使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试；

在HIL测试过程中，检测并统计所述控制器的软件代码中各个功能函数的预设标记；

基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度。

可选地，所述预设标记包括函数状态位和/或函数运行次数计数器，

在所述使用所述HIL测试用例对控制器进行HIL测试的步骤之前，还包括：

在所述软件代码的各个所述功能函数中添加设置所述预设标记。

可选地，在所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤之前，还包括：

获取所述软件代码中所有所述功能函数的第一函数总数；

获取在HIL测试过程中函数状态位和/或函数运行次数计数器发生变化的所述功能函数的第二函数总数。

可选地，所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤，包括：

以所述第一函数总数和所述第二函数总数的比值作为所述覆盖度。

可选地，在所述基于所述预设标记的统计数据，确定所述HIL测试用例对所述功能函数的覆盖度的步骤之后，还包括：

获取所述控制器的软件测试报告和所述HIL测试用例的HIL测试报告。

可选地，在所获取所述控制器的软件测试报告和所述HIL测试用例的HIL测试报告的步骤之后，还包括：