[发明专利]一种基于率失真优化的三维模型属性图像简化方法和装置

权利要求书

1.一种基于率失真优化的三维模型属性图像简化方法，其特征在于，包括：

获取三维模型属性图像，将整幅属性图像等分成多个图像块，确定每一个图像块的率失真曲线；

根据每一个图像块的率失真曲线，在给定的像素总数限制下，使用拉格朗日乘子法优化求解每一个图像块的下采样率；以及

根据所述每一个图像块的下采样率使用双三次插值对相应的图像块进行下采样，得到简化后的属性图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述三维模型属性图像是三维模型表面属性参数化到二维空间所形成的图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述三维模型属性图像是扭曲的纹理图像。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，

在获取三维模型属性图像之前，包括：

使用外观驱动优化的简化算法对三维模型进行简化。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述确定每一个图像块的率失真曲线，包括：

对于给定的两个带纹理映射的三维模型，根据所述两个模型表面上在空间中接近的点对之间的着色差异，计算纹理失真度量。

6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，

在得到简化后的属性图像之后，包括：

对简化后的属性图像进行上采样，以恢复成与原始图像大小相同的纹理图像用于视觉和定量比较。

7.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时由处理器执行权利要求1至6中任意一项所述的方法。

8.一种基于率失真优化的三维模型属性图像简化装置，其特征在于，包括：

率失真模块，用于获取三维模型属性图像，将整幅属性图像等分成多个图像块，确定每一个图像块的率失真曲线；

下采样率计算模块，用于根据每一个图像块的率失真曲线，在给定的像素总数限制下，使用拉格朗日乘子法优化求解每一个图像块的下采样率；以及

插值模块，用于根据所述每一个图像块的下采样率使用双三次插值对相应的图像块进行下采样，得到简化后的属性图像。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，

所述三维模型属性图像是三维模型表面属性参数化到二维空间所形成的图像。

10.一种基于率失真优化的三维模型属性图像简化装置，其特征在于，包括：

第一处理器；以及

第一存储器，与所述第一处理器连接，用于为所述第一处理器提供处理以下处理步骤的指令：

获取三维模型属性图像，将整幅属性图像等分成多个图像块，确定每一个图像块的率失真曲线；

根据每一个图像块的率失真曲线，在给定的像素总数限制下，使用拉格朗日乘子法优化求解每一个图像块的下采样率；以及

根据所述每一个图像块的下采样率使用双三次插值对相应的图像块进行下采样，得到简化后的属性图像。