[发明专利]自适应游程编码的测试数据压缩及解压方法

说明书

本发明提供了一种自适应游程编码测试数据压缩及解压方法，其对测试数据的无关位进行填充后，将较长的0游程或1游程编码为较短的码字，实现第一级压缩功能；码字具备可还原性，解压后不影响芯片测试。填充后的测试数据相邻游程长度差值为出现次数最多的差值M时，使用较短的特殊编码代替较长的码字，实现第二级压缩。差值M根据测试数据确定，相邻游程长度差值为M时不论游程类型是否相同均可使用特殊码字，其使用频次高，进一步提高了压缩效率。本发明能提高测试数据的压缩效率，降低硬件开销。

技术领域

本发明涉及计算机信息领域，具体涉及一种测试数据压缩及解压方法。

背景技术

测试是计算机信息领域必不可少的流程，集成电路芯片也不例外。测试在集成电路芯片生产过程中的地位越来越高，测试时间过长会提高测试成本，因此如何减少测试时间，降低测试成本是芯片行业从业者和科研人员都十分关注的问题。

随着集成电路的发展，芯片的集成度越来越高，这大大增加了测试难度和测试成本。为了减少测试成本，采用编码的方式来无损压缩测试数据是一种常见的手段，常见的编码压缩方法有Golomb，哈夫曼编码，FDR，EFDR，AFDR,交替和连续长度编码，Variable-Tail编码，9值码，变游程编码，混合定变长码，双游程交替编码，混合编码方案等。以上方法大多采用固定的编码来一一对应不同的游程长度，只考虑单个游程长度如何编码，没有分析游程长度之间的关系。从FDR编码、EFDR编码、变游程编码等方法的编码表中可以看出，表中编码的长度是随着游程长度增加而呈阶梯式上升趋势，游程长度越长，编码长度越长。因此是否能够通过一个特殊编码代替多个具有一定规律的游程长度，从而提高压缩率。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种自适应游程编码的测试数据压缩及解压方法，能提高压缩效率，降低测试成本。

为解决上述技术问题，本发明的自适应游程编码的测试数据压缩及解压方法，包括：

A.压缩步骤：

（A1）构建训练用编码表：

（1.1）所述训练用编码表包含以下字段：

组号：以一个十进制数k表示；

游程长度：以一个十进制数L表示；

0游程前缀：以一组由若干个0和1个1组成的二进制代码表示；

1游程前缀：以一组由若干个1和1个0组成的二进制代码表示；

后缀：以一组二进制代码表示；

0游程码字：以一组二进制代码表示；所述0游程码字由0游程前缀和后缀连续排列而成；

1游程码字：以一组二进制代码表示；所述1游程码字由1游程前缀和后缀连续排列而成；

所述训练用编码表中的记录按照游程长度L递增排列，并编组，组号k升序排列，游程长度最小为1，组号最小为1；

（1.2）在所述码表中，第k组包含2^k条记录，第k组0游程前缀由k个0和一个1组成，第k组1游程前缀由k个1和一个0组成，第k组后缀由最小的k位二进制数至最大的k位二进制数依次排序；

（A2）对原始测试数据进行预处理，填充无关位，得到双游程序列；

（A3）通过步骤（A2）所得双游程序列，获得对应游程长度序列，依次用后一个游程长度减去前一个游程长度得到一个差值序列，找出差值序列中出现频率最高的差值M，将差值M设为最优值；

（A4）构建压缩用编码表

将训练用编码表中每条记录的游程长度全部减1，其余部分保持不变，获得压缩用编码表；

（A5）对步骤（A2）所得数据按位进行读取，得到第一个游程，记录其游程类型、游程长度；查压缩用编码表得到一个码字并加入压缩后数据队列；