[发明专利]基于前后游程长度编码的测试数据压缩及解压方法在审
申请号: | 202210256582.4 | 申请日: | 2022-03-16 |
公开(公告)号: | CN114614832A | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 吴海峰;邓博文;王远志;程一飞;赵晓静;吴心竹 | 申请(专利权)人: | 吴海峰 |
主分类号: | H03M7/46 | 分类号: | H03M7/46 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 246001 安徽省安庆*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 前后 游程 长度 编码 测试 数据压缩 解压 方法 | ||
本发明提供了一种基于前后游程长度编码的测试数据压缩及解压方法,其对测试数据的无关位进行填充后,将较长的0游程或1游程编码为较短的码字,实现第一级压缩功能;码字具备可还原性,解压后不影响芯片测试。填充后的测试数据相邻游程长度相等时,使用较短的特殊编码代替较长的码字,实现第二级压缩功能。相邻游程长度相同时不论游程类型是否相同均可使用特殊码字,其使用频次高,进一步提高压缩效率。在无关位填充时,采用了动态规划的方法,增加了前后游程长度相同情况出现的次数,即再次增加了特殊码字的使用频次。本发明能提高测试数据的压缩效率,降低硬件开销。
技术领域
本发明涉及计算机信息领域,具体涉及一种测试数据压缩及解压方法。
背景技术
在信息时代,各行各业都离不开电子设备,而集成电路芯片是一切设备的核心,在集成电路生产过程中,测试是不可或缺的流程,它对生产成本有很大影响。在测试中,测试时间是影响生产成本的因素之一,因此如何减少测试时间、降低测试成本是芯片行业一直关注的问题。
随着集成电路的发展,芯片持续向更小的外形尺寸发展,同时集成度也越来越高,这大大增加了测试难度和测试成本。为了减少测试成本,对测试数据进行压缩是一种常见方法。基于编码的测试数据压缩方法有字典编码,哈夫曼编码,Golomb,FDR,EFDR,AFDR,交替和连续长度编码,Variable-Tail编码,变游程编码,混合定变长码,双游程交替编码等。以上方法编码的长度和码字的长度既有固定的也有可变的,但编码和码字之间却是一一对应的,它们的编码过程是相对独立的,只考虑单个游程长度如何编码,没从全局分析游程长度之间的关系。因此是否能够找到具有一定规律的游程长度序列,然后用特殊编码表示它们,从而提高压缩率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于提供一种基于前后游程长度编码的测试数据压缩及解压方法,能提高压缩效率,降低硬件开销。
为解决上述技术问题,本发明的基于前后游程长度编码的测试数据压缩及解压方法,包括:
A.压缩步骤:
(A1)构建码表:
(A1.1)所述码表包含以下字段:
组号:以一个十进制数k表示;
标称长度:以一个十进制数Lx表示;
前缀(0游程):以一组由若干个0和1个1组成的二进制代码表示;
前缀(1游程):以一组由若干个1和1个0组成的二进制代码表示;
后缀:以一组二进制代码表示;
码字(0游程):以一组二进制代码表示;所述码字(0游程)由前缀(0游程)和后缀连续排列而成;
码字(1游程):以一组二进制代码表示;所述码字(1游程)由前缀(1游程)和后缀连续排列而成;
所述码表中的记录按照标称长度递增排列并编组,组号k升序排列;标称长度Lx最小为0,组号k最小为1;
(A1.2)在所述码表中,第k组包含2k+1条记录,第k组前缀(0游程)由k个0和一个1组成,第k组前缀(1游程)由k个1和一个0组成,第k组后缀由最小的(k+1)位二进制数至最大的(k+1)位二进制数依次排序;
(A1.3)0游程指由若干个连续的0加上1个1组成的二进制代码,1是0游程结束标志,其游程长度L指0的个数;1游程指由若干个连续的1加上1个0组成的二进制代码,0是1游程结束标志,其游程长度L指1的个数;
(A1.4)在所述码表中,标称长度为0时,所得两个码字作为特殊码字;
(A2)填充无关位:
本步骤依次按位读取待压缩数据,并将无关位填充为二进制数0或1;
(A3)对步骤(A2)所得数据按位进行读取,得到第一个游程,记录其游程类型、游程长度;查表得到码字,并加入压缩后数据队列;
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