[发明专利]一种双矛盾顶触式电子测控仪器刚柔反转保护装置

说明书

本发明公开了一种双矛盾顶触式电子测控仪器刚柔反转保护装置，包括测试仪保护壳、自反馈刚柔反转承托装置、固定组件和双矛盾式异道流体顶触自控装置，所述双矛盾式异道流体顶触自控装置活动设于测试仪保护壳内；所述自反馈刚柔反转承托装置活动设于测试仪保护壳内，所述固定组件活动设于测试仪保护壳上，所述固定组件与自反馈刚柔反转承托装置和双矛盾式异道流体顶触自控装置活动连接。本发明属于电子测控仪器防护技术领域，具体是指一种双矛盾顶触式电子测控仪器刚柔反转保护装置，外在以柔性承接刚性冲击，予以冲击缓冲空间，内在通过流体压力冲击以强劲支撑进行防护；实现了对缝隙的自定位的技术效果，并且针对不同缝隙实现无缝贴合清洁。

技术领域

本发明属于电子测控仪器防护技术领域，具体是指一种双矛盾顶触式电子测控仪器刚柔反转保护装置。

背景技术

电子测控仪器，在工作时通过传感器来采集的信号进行平整、滤波、模数转换等，转换成便于处理的数字信号，再对数字信号进行处理以便显示，或者发出控制信号，电子测控仪器广泛应用于生产作业中，由于电子测控仪器的工作环境较为复杂，因此常使用保护装置以完成对电子测控仪器进行防护，提高其使用的寿命。

其大多是将电子测控仪器放入到保护的箱体内，在使用时进行取出，不用时进行放置，防护的效果差；而且现有的电子测控仪器大多均不能缓解外界的碰撞，导致在日常的使用中容易遭受外界的物理侵害，从而导致影响电子测控仪器的使用寿命和测量精度，不利于后续工作的开展，且现有的电子测控仪器大多无法对其缝隙内的灰尘进行清理，导致在灰尘较大的工作环境内使用时灰尘易存放在设备缝隙中，极为不便。

发明内容

针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本发明提供了一种双矛盾顶触式电子测控仪器刚柔反转保护装置，针对现有技术中在对电子测控仪器进行保存时，采用刚性承接装置防护时，在大力冲击下刚性承接装置容易对电子测控仪器造成损坏，采用柔性承接装置防护时，在硬性冲击下，不能很好的起到防护效果的技术难题，创造性的提出了自反馈刚柔反转承托装置和双矛盾式异道流体顶触自控装置，将自服务原理应用到流体力学上，面对外压时，流体移动至内腔，外在以柔性承接刚性冲击，予以冲击缓冲空间，内在通过流体压力冲击以强劲支撑进行防护，解决了既要柔性承接又要刚性防护的矛盾性技术难点；

同时为了对电子测控仪上不同孔隙的精准定位清洁，不仅需要精准定位到电子测控仪器缝隙处，还要实现既对大缝隙进行无死角清洁，又能对小缝隙进行无死角清洁的目的，采用双矛盾式异道流体顶触自控装置，通过自服务实现内流通道和外流通道在不同时刻的充盈状态，改变硬度及垂度，在无控制装置的情况下，实现了对缝隙的自定位的技术效果，并且针对不同缝隙实现无缝贴合清洁，解决了既要贴合大缝隙清洁又要贴合小缝隙清洁的矛盾的技术问题。

本发明采取的技术方案如下：本发明提供的一种双矛盾顶触式电子测控仪器刚柔反转保护装置，包括测试仪保护壳、自反馈刚柔反转承托装置、固定组件和双矛盾式异道流体顶触自控装置，所述双矛盾式异道流体顶触自控装置活动设于测试仪保护壳内，通过自服务实现内流通道和外流通道在不同时刻的充盈状态，针对不同缝隙实现无缝贴合清洁，解决了既要贴合大缝隙清洁又要贴合小缝隙清洁的矛盾的技术问题；所述自反馈刚柔反转承托装置活动设于测试仪保护壳内，所述自反馈刚柔反转承托装置设于双矛盾式异道流体顶触自控装置上端，自反馈刚柔反转承托装置利用自反馈原理，面对外压时，流体移动至内腔，外在以柔性承接刚性冲击，予以冲击缓冲空间，内在通过流体压力冲击以强劲支撑进行防护，解决了既要柔性承接又要刚性防护的矛盾性技术难点；测试仪保护壳对自反馈刚柔反转承托装置和双矛盾式异道流体顶触自控装置进行支撑固定，所述固定组件活动设于测试仪保护壳上，所述固定组件与自反馈刚柔反转承托装置和双矛盾式异道流体顶触自控装置活动连接，固定组件对自反馈刚柔反转承托装置和双矛盾式异道流体顶触自控装置进行固定，固定自反馈刚柔反转承托装置和双矛盾式异道流体顶触自控装置调整后的位置。