[发明专利]一种飞针测试点校准装置及方法在审

专利信息
申请号: 202210242190.2 申请日: 2022-03-11
公开(公告)号: CN114609568A 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 李强 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R31/28;G01R1/067
代理公司: 济南诚智商标专利事务所有限公司 37105 代理人: 李修杰
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 校准 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种飞针测试点校准装置,其特征在于,所述装置包括:PCB光板、飞针测试设备、蓝印纸、第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸和固定夹,所述PCB光板中没有置件,所述飞针测试设备中内置有飞针测试软件,所述PCB光板上从下往上依次平铺有第一飞针测试点图纸、蓝印纸、第二飞针测试点图纸,且所述第一飞针测试点图纸上的所有测试点与PCB光板上的测试点重合,所述蓝印纸分别与第一飞针测试点图纸、第二飞针测试点图纸紧密平整贴合,所述飞针测试设备通过探针经由第二飞针测试点图纸、蓝印纸、第一飞针测试点图纸与PCB光板连接,所述固定夹用于固定PCB光板、第一飞针测试点图纸、蓝印纸和第二飞针测试点图纸,其中,所述第一测试点图纸和第二测试点图纸完全相同,且根据飞针测试点的位置以及所述飞针测试点所在PCB主板的位置确定。

2.根据权利要求1所述的一种飞针测试点校准装置,其特征在于,所述飞针测试软件中设定禁飞区域,所述禁飞区域内禁止探针测试,且所述固定夹位于禁飞区域内。

3.根据权利要求1所述的一种飞针测试点校准装置,其特征在于,所述第一测试点图纸和第二测试点图纸根据飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标生成,且所述第一测试点图纸和第二测试点图纸中标注有测试点编号。

4.根据权利要求1所述的一种飞针测试点校准装置,其特征在于,所述固定夹包括完全相同的第一固定夹和第二固定夹,第一固定夹和第二固定夹在平行于PCB光板的方向上对称放置,所述第一固定夹和第二固定夹的下侧分别与PCB光板接触,所述第一固定夹和第二固定夹的上侧分别与第二飞针测试点图纸接触,且第一固定夹和第二固定夹在垂直于PCB光板的方向上设置于第二测试点图纸的最外侧测试点与PCB光板的工艺边之间。

5.一种飞针测试点校准方法,其特征在于,所述方法应用于权利要求1-4中任一所述的一种飞针测试点校准装置,所述方法包括:

对所有待测的飞针测试点进行编号,获取测试点编号;

根据所述测试点编号、飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标,生成第一测试点图纸和第二测试点图纸,所述第一测试点图纸和第二测试点图纸上的测试点位置为目标下针位置;

根据所述第一测试点图纸和第二测试点图纸,搭建测试环境;

根据所获取的测试指令,对所有待测的飞针测试点进行飞针测试,获取测试点扎痕位置,所述测试点扎痕位置为实际下针位置;

根据实际下针位置和目标下针位置的偏差,以及测试点编号,对飞针测试点的下针位置进行校准。

6.根据权利要求5所述的一种飞针测试点校准方法,其特征在于,所述第一测试点图纸和第二测试点图纸上的测试点坐标、图案尺寸与PCB主板上的测试点坐标、图案尺寸分别一致。

7.根据权利要求5所述的一种飞针测试点校准方法,其特征在于,根据所述测试点编号、飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标,生成第一测试点图纸和第二测试点图纸,包括:

根据飞针测试点的CAD档案生成测试程序;

运行所述测试程序,读取飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标;

根据测试点编号、飞针测试点的坐标以及所述飞针测试点所在PCB主板的MARK点坐标,生成第一测试点图纸和第二测试点图纸。

8.根据权利要求5所述的一种飞针测试点校准方法,其特征在于,根据所述第一测试点图纸和第二测试点图纸,搭建测试环境的方法,包括:

利用固定夹对校准模块进行固定,所述校准模块包括:PCB光板、第一飞针测试点图纸、蓝印纸以及第二飞针测试点图纸;

将所述校准模块放置于飞针轨道的测试区域。

9.根据权利要求5所述的一种飞针测试点校准方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据固定夹的高度,设定禁飞区域,所述禁飞区域内禁止探针测试,且所述固定夹位于禁飞区域内。

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