[发明专利]一种射频拉远单元上行链路自检测方法有效
申请号: | 202210240411.2 | 申请日: | 2022-03-10 |
公开(公告)号: | CN114567392B | 公开(公告)日: | 2023-07-28 |
发明(设计)人: | 魏旻 | 申请(专利权)人: | 四川恒湾科技有限公司 |
主分类号: | H04B17/29 | 分类号: | H04B17/29;H04W72/21;H04W72/0446 |
代理公司: | 成都鱼爪智云知识产权代理有限公司 51308 | 代理人: | 衡小璐 |
地址: | 610000 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射频 单元 上行 检测 方法 | ||
1.一种射频拉远单元上行链路自检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
在TDD模式下,将自检测信号插入无线帧结构中特殊时隙的GP时间窗口,所述自检测信号通过复用的部分下行发射链路,在上行滤波器的输入端通过预设方案将所述自检测信号耦合到接收通道中;具体包括:所述自检测信号通过复用的发射通道进行发射,基于上行接收通道的链路预算,在复用的下行通道的第一级放大器输出端设置一个单刀双掷开关,所述单刀双掷开关用于切换自检测模式和常规发射模式,其中,所述单刀双掷开关受数字芯片控制,在GP时间窗口内切换至自检测模式,在其它时间窗口内,切换至常规发射模式;当处于自检测模式时,在上行滤波器的输入端通过微带线从下行链路将所述自检测信号耦合到接收通道中;
在所述自检测信号经过完整的上行接收通道后,在数字芯片中采集接收信号,并将所述接收信号存储至DDR中;
对所述DDR中的接收信号进行周期性数据分析,检测上行链路的预设关键指标,以实现对射频拉远单元上行链路的性能自检。
2.根据权利要求1所述的射频拉远单元上行链路自检测方法,其特征在于,所述当处于自检测模式时,在上行滤波器的输入端通过微带线从下行链路将所述自检测信号耦合到接收通道中的步骤包括:
对于多通道的射频拉远单元,所述自检测信号从复用的发射通道发射后,经过级联的一分二功分器输入到每个独立的接收通道。
3.根据权利要求1所述的射频拉远单元上行链路自检测方法,其特征在于,所述单刀双掷开关受数字芯片控制,在GP时间窗口内切换至自检测模式的步骤包括:
在GP时间窗口内,所述自检测信号依次经由数字上变频、削峰、数字预失真、数模转换器、第一级功率放大器,传输至上行滤波器的输入端;
所述自检测信号经过模数转换后,经由数字下变频送入数据采集模块。
4.根据权利要求1所述的射频拉远单元上行链路自检测方法,其特征在于,对所述DDR中的接收信号进行周期性数据分析,检测上行链路的预设关键指标,以实现对射频拉远单元上行链路的性能自检的步骤包括:
基于一个符号周期,通过数字功率计利用公式计算待发射的自检测信号平均功率,利用公式计算接收到的自检测信号平均功率,其中,k为第k个采样点,x为待发射的自检测信号,y为接收到的自检测信号,M为总的采样点数;
通过比较器将待发射的自检测信号平均功率与接收到的自检测信号平均功率进行减法运算得到比较结果;
若所述比较结果的绝对值大于第一预设门限,则发出链路增益异常告警,若所述比较结果的绝对值小于第一预设门限,则结合链路预算利用公式GainUL=Powery-(Powerx+GainDL)计算上行链路增益,并进入下一个检测周期,其中,GainDL为增益,UL为上行链路,DL为下行链路,powery为计算的功率,x为待发射的自检测信号,y为接收到的自检测信号。
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