[发明专利]设备测试系统

说明书

本公开提供了一种设备测试系统，本公开涉及设备测的领域，具体涉及一种设备测试系统，该系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；每个测试治具与对应的待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接；处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号，基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。上述系统可以预先为每个待测模块配置对应的测试治具，以待测设备自身的处理器来自动执行针对各待测模块的测试流程，实现了待测设备的自动化测试过程，显著地提高了测试效率。

技术领域

本公开涉及设备测试领域，具体涉及一种设备测试系统。

背景技术

为了确保电子设备能够在实际应用场景中能够正常运行，通常需要提前对电子设备的多项模块的功能进行测试。目前电子设备通常需要采用专业人员手动对其模块的功能进行测试，这种测试方式的效率较低。

发明内容

本公开提供了一种设备测试系统，设备测试系统包括待测设备和至少一个测试治具，待测设备包括处理器和至少一个待测模块；

每个测试治具与对应待测模块电连接以形成一个测试单元，处理器与每个测试单元中的测试治具和/或待测模块电连接；

处理器用于向测试单元的测试治具和/或待测模块发送测试信号，基于测试治具和/或待测模块针对测试信号的反馈情况生成测试结果信息。

在本公开实施例中，至少一个测试治具包括主机设备，至少一个待测模块包括网口，主机设备与网口电连接，处理器与网口电连接；

处理器用于通过网口向主机设备发送回送请求，基于主机设备针对回送请求的信息反馈情况生成网口的测试结果信息；

其中，回送请求用于指示主机设备向处理器反馈应答消息。

在本公开实施例中，至少一个测试治具包括外设存储设备，至少一个待测模块包括存储接口，外设存储设备与存储接口电连接，处理器与存储接口电连接；

处理器用于通过存储接口向外设存储设备发送容量获取请求，基于外设存储设备针对容量获取请求的信息反馈情况生成存储接口的测试结果信息；

其中，容量获取请求用于指示外设存储设备向处理器反馈外设存储设备的存储容量。

在本公开实施例中，至少一个待测模块包括固态硬盘，至少一个测试治具包括处理器与固态硬盘之间的第一数据传输线；

处理器用于通过第一数据传输线向固态硬盘发送容量获取请求，基于固态硬盘针对容量获取请求的信息反馈情况生成固态硬盘的测试结果信息；其中，容量获取请求用于指示固态硬盘向处理器反馈固态硬盘的存储容量。

在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第一信号线，至少一个待测模块包括通用输出接口和通用输入接口，通用输出接口通过第一信号线与通用输入接口电连接，处理器分别与通用输出接口和通用输入接口电连接；

处理器用于通过通用输出接口和第一信号线向通用输入接口发送第一电平信号，通过通用输入接口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成通用输出接口和通用输入接口的测试结果信息。

在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第二信号线，至少一个待测模块包括第一串口，第一串口的输出端口和输入端口通过第二信号线电连接；

处理器用于通过输出端口和第二信号线向输入接口发送第一电平信号，通过输入端口接收第二电平信号，基于第一电平信号和第二电平信号的比较结果生成第一串口的测试结果信息。

在本公开实施例中，至少一个测试治具包括第三信号线，至少一个待测模块包括第二串口和韦根接口，第二串口通过第三信号线与韦根接口电连接，处理器分别与第二串口和韦根接口电连接；