[发明专利]包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法

说明书

本发明涉及测试技术领域，公开了包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法。包装纸表面镀层制样方法，包括：向从包装纸上截下的镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶，固化胶用于渗透纸屑，且硬化后将纸屑固化于胶层中得到第一中间样；将第一中间样镶嵌于透明树脂内得到第二中间样；朝向镀层粗样边缘对第二中间样进行打磨，磨掉镀层的边缘。包装纸表面镀层的厚度测试方法，包括采用上述的制样方法得到镀层样本；测试镀层样本中镀层的厚度。本申请提供的方案，将厚度不准确的镀层边缘磨掉，打磨后得到样本中镀层的各层分布清晰，厚度准确，对该样本中镀层各膜层进行测试，能得到更加准确的测试结果。

技术领域

本发明涉及测试技术领域，具体而言，涉及包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法。

背景技术

纸板是瓦楞纸箱、纸盒等产品生产的主要原材料，它的性能如何直接或间接影响了产品的内在质量和使用性能。对瓦楞纸箱、纸盒等包装产品来说，需要具有耐磨、防水和防潮性能，因此在制造过程中需要对包装纸进行印后加工，印后加工包括上光涂布，纸板表面通过上光涂布，可以使印刷品增强耐水、耐晒、耐磨擦和耐污染的性能。进行上光涂布的包括用印刷机上光的油性上光油，也包括用上光机上光的水性、油性上光油，还包括溶剂型上光涂料、UV上光涂料等。

常见厚膜测试方法：金相测厚、X射线荧光测厚(XRF)、SEM测厚、XPS深度剖析、台阶测厚等。

射线光谱方法测定覆盖层厚度是基于一束强烈而狭窄的多色X射线与基体和覆盖层的相互作用，此相互作用产生离散波长和能量的二次辐射，这些二次辐射具有构成覆盖层和基体元素特征。扫描电子显微镜(SEM)测试厚度的方法测试范围宽，适用于测试厚度0.01μm～1mm的金属或非金属膜层，此方法适用于测试纳米级厚度的膜层。XPS设备可以测试样品极表面的元素成分(每次测试的信息深度为5nm左右)，并且可以在样品室内直接对样品表面进行溅射，可以去除指定厚度(纳米级)的表层物质，这两个功能结合使用就可以测试出纳米级膜层的厚度。上述方案中某些需要滤光片进行测试，测试中误差也比较大，且看不到整个截面厚度情况，难以做到同时测试多包装纸表面镀层的多个膜层的厚度。而包装纸镀层通常是多膜层结构，因此，常规的测试方法难以得到包装纸镀层各膜层的准确厚度。

此外，无论怎样的测厚方式，均需要采用一个厚度准确的样本进行测试才能得到准确的测试结果，而从纸板表面剥离的镀层因带有纸屑以及剥离的边缘在外力作用下厚度会出现一定偏差，因此无法直接用于厚度测试。因此，提供准确清晰的测试样本是解决测试结果不准确的方案之一。

鉴于此，特提出本发明。

发明内容

本发明的目的在于提供包装纸表面镀层制样方法和厚度测试方法。

本发明是这样实现的：

第一方面，本发明提供一种包装纸表面镀层制样方法，包括：

向从包装纸上分离的镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶，固化胶用于渗透纸屑，且硬化后将纸屑固化于胶层中得到第一中间样；

将第一中间样镶嵌于透明树脂内得到第二中间样；

朝向镀层粗样边缘对第二中间样进行打磨，磨掉镀层厚度不准确的边缘。

在可选的实施方式中，固化胶包括502胶、CC-33A粘合剂和401胶水中至少一种。

在可选的实施方式中，透明树脂包括环氧树脂、水晶滴胶树脂和AB胶树脂中至少一种。

在可选的实施方式中，在向镀层粗样粘有纸屑的一面涂布固化胶之前还包括：

将从包装纸上截下的样本浸泡于水中，待纸层软化后，剥离纸层，然后去除剩余样本的水分得到镀层粗样。

在可选的实施方式中，去除水分的方式为烘干、晾干或热风吹干。