[发明专利]一种拓扑信号识别设备检测装置在审
申请号: | 202210189094.6 | 申请日: | 2022-02-28 |
公开(公告)号: | CN114675100A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 胡亮;张武娟;敬泽安;肖林松;汤可;周宇;刘志勇;李俊 | 申请(专利权)人: | 威胜信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 长沙楚为知识产权代理事务所(普通合伙) 43217 | 代理人: | 龚安 |
地址: | 410205 湖南省长沙*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 拓扑 信号 识别 设备 检测 装置 | ||
本发明公开了一种拓扑信号识别设备检测装置,包括上位机单元、可编程交流源、中控处理器单元、可编程拓扑信号发生装置、信号衰减单元、电流互感器以及DUT工装表位。该装置将拓扑信号识别设备的抗频率偏移性能、抗衰减性能的检测评估功能集成于同一装置,具备组成简单,智能化,易操作,高可靠等优点。
技术领域
本发明涉及电力配电网技术领域,尤其涉及一种拓扑信号识别设备检测装置。
背景技术
目前,基于工频注入特征电流方式的低压台区拓扑识别技术已经发展成熟,其技术实现原理为拓扑信号发生设备利用专用电路在工频低压电力线缆注入(调制)特征频率且具有特征编码信息的拓扑信号,拓扑信号识别设备通过电流互感器,从电力线缆中识别(解析)出拓扑信号,进而实现拓扑关系。
随着拓扑识别设备的完善,相应技术标准及规范也逐步形成,在标准及规范中对拓扑信号的频率、幅值、编码格式和内容以及采样频率进行了约束,但缺乏能够检测拓扑识别设备性能的检测装置。
发明内容
本发明要解决的技术问题是,提供一种能够对拓扑信号识别设备的抗频率偏移性能,抗衰减性能进行检测评估的装置。
为解决上述技术问题,本发明提供一种拓扑信号识别设备检测装置,包括上位机单元、可编程交流源、中控处理器单元、可编程拓扑信号发生装置、信号衰减单元、电流互感器以及DUT工装表位;所述上位机单元与所述中控处理器单元、所述可编程交流源、所述DUT工装表位通信连接,所述可编程交流源与所述信号衰减单元电气连接,所述中控处理器单元与所述信号衰减单元、所述可编程拓扑信号发生装置电气连接,所述信号衰减单元与所述可编程拓扑信号发生装置电气连接,所述电流互感器与所述DUT工装表位电气连接;所述上位机单元用于设置检测项目及检测参数,运行或停止检测,查看检测结果,生成检测报告;所述可编程交流源用于根据所述上位机单元发来的频率及电压设置值输出相应频率及电压设置值的交流电源;所述中控处理器单元用于接收所述上位机单元指令,控制所述信号衰减单元和所述可编程拓扑信号发生装置执行相应动作;所述信号衰减单元用于对拓扑信号进行衰减;所述可编程拓扑信号发生装置用于产生所设定中心频率的拓扑信号;所述DUT工装表位用于放置被测拓扑识别设备、为被测拓扑识别设备提供电源、采集并上传被测拓扑识别设备识别结果。
更进一步,所述信号衰减单元包括N个可控双掷开关器件,所述N为大于等于2的整数,所述N个可控双掷开关器件公共端与所述可编程拓扑信号发生装置电源火线输入端连接,所述N个可控双掷开关器件的常开端及常闭端均与所述可编程交流源的火线输出端连接,所述N个可控双掷开关器件常开端与所述可编程交流源火线输出端的连接线或者所述N个可控双掷开关器件常闭端与所述可编程交流源火线输出端的连接线穿过所述电流互感器线圈,所述电流互感器输出端连接所述DUT工装表位,所述可编程交流源零线输出端连接所述可编程拓扑信号发生装置电源零线输入端。
更进一步,所述可控双掷开关器件为继电器,所述继电器包括常开端、常闭端和公共端。
更进一步,所述信号衰减单元还包括N个继电器驱动电路,所述继电器驱动电路接收所述中控处理器单元发来的控制信号驱动相应继电器作出开关闭合或断开动作。
更进一步,所述中控处理器单元为MCU系统板,所述MCU系统板包括UART接口、GPIO接口、PWM输出接口。
更进一步,所述MCU系统板的PWM输出接口与所述可编程拓扑信号发生装置连接。
更进一步,所述MCU系统板的GPIO接口与所述信号衰减单元连接。
更进一步,所述MCU系统板UART接口通过电平转换电路与所述上位机单元串口通信连接。
更进一步,所述上位机单元为PC机或移动终端。
更进一步,所述MCU系统板包括ARM Corex-M4微控制器。
本发明的有益效果在于:
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